Автори | V.H. Choudapur1, S.B. Kapatkar1, A.B. Raju2 |
Афіліація |
1Department of Physics, B.V.B. College of Engineering and Technology, Hubballi, 580031, Karnataka, India 2Department of Electrical and Electronics Engineering, B.V.B. College of Engineering and Technology, Hubballi, 580031, Karnataka, India |
Е-mail | veena_choudapur@bvb.edu |
Випуск | Том 11, Рік 2019, Номер 5 |
Дати | Одержано 20 червня 2019; у відредагованій формі 24 жовтня 2019; опубліковано online 25 жовтня 2019 |
Цитування | V.H. Choudapur, S.B. Kapatkar, A.B. Raju, Ж. нано- електрон. фіз. 11 № 5, 05017 (2019) |
DOI | https://doi.org/10.21272/jnep.11(5).05017 |
PACS Number(s) | 61.05.C, 68.37.Hk, 73.61.Ga, 73.90.f |
Ключові слова | Метод центрифугування, Гідротермальний метод (4) , Електричний опір (8) , Тонкі плівки ZnS леговані Cu. |
Анотація |
Тонкі плівки чистого ZnS та ZnS, легованого міддю, виготовлені методом центрифугування. Нано-частинки синтезуються гідротермальним методом, використовуючи недорогі вихідні хімікати та демінералізовану воду як розчинник. Результати для сульфіду цинку, легованого Cu, порівнюються з результатами нелегованого сульфіду цинку. Отримані однорідні та провідні тонкі плівки з великим значенням ширини забороненої зони. Графіки поглинання в ультрафіолетовому та видимому діапазонах використовувались для оцінки значень ширини забороненої зони. Аналіз рентгенівських досліджень підтверджує успішне додавання атомів Cu в решітку сульфіду цинку до 6 % без зміни позицій піків рентгенівської дифракції матриці. Однак на кристалічність впливає рівень легування Cu в ZnS через деформації решітки. XRD та EDS аналіз плівок підтверджує чистоту зразків. Зразки демонструють великі значення ширини забороненої зони, прозорість та електричний струм у діапазоні від 10 – 4 до 10 – 11 мА. Додавання атомів Cu до ZnS може змінювати ширину забороненої зони та провідні властивості. Такі плівки підходять для УФ-детекторів та інших оптоелектронних застосувань. |
Перелік цитувань |