Синтез та характеристики тонких плівок ZnS, легованих Cu, осаджених методом центрифугування

Автори V.H. Choudapur1, S.B. Kapatkar1, A.B. Raju2
Приналежність

1Department of Physics, B.V.B. College of Engineering and Technology, Hubballi, 580031, Karnataka, India

2Department of Electrical and Electronics Engineering, B.V.B. College of Engineering and Technology, Hubballi, 580031, Karnataka, India

Е-mail veena_choudapur@bvb.edu
Випуск Том 11, Рік 2019, Номер 5
Дати Одержано 20 червня 2019; у відредагованій формі 24 жовтня 2019; опубліковано online 25 жовтня 2019
Посилання V.H. Choudapur, S.B. Kapatkar, A.B. Raju, Ж. нано- електрон. фіз. 11 № 5, 05017 (2019)
DOI https://doi.org/10.21272/jnep.11(5).05017
PACS Number(s) 61.05.C, 68.37.Hk, 73.61.Ga, 73.90.f
Ключові слова Метод центрифугування, Гідротермальний метод (4) , Електричний опір (8) , Тонкі плівки ZnS леговані Cu.
Анотація

Тонкі плівки чистого ZnS та ZnS, легованого міддю, виготовлені методом центрифугування. Нано-частинки синтезуються гідротермальним методом, використовуючи недорогі вихідні хімікати та демінералізовану воду як розчинник. Результати для сульфіду цинку, легованого Cu, порівнюються з результатами нелегованого сульфіду цинку. Отримані однорідні та провідні тонкі плівки з великим значенням ширини забороненої зони. Графіки поглинання в ультрафіолетовому та видимому діапазонах використовувались для оцінки значень ширини забороненої зони. Аналіз рентгенівських досліджень підтверджує успішне додавання атомів Cu в решітку сульфіду цинку до 6 % без зміни позицій піків рентгенівської дифракції матриці. Однак на кристалічність впливає рівень легування Cu в ZnS через деформації решітки. XRD та EDS аналіз плівок підтверджує чистоту зразків. Зразки демонструють великі значення ширини забороненої зони, прозорість та електричний струм у діапазоні від 10 – 4 до 10 – 11 мА. Додавання атомів Cu до ZnS може змінювати ширину забороненої зони та провідні властивості. Такі плівки підходять для УФ-детекторів та інших оптоелектронних застосувань.

Перелік посилань