Автори | P. Parthasarathi1, T.S. Arun Samuel1 , P. Vimala2, N. Arumugam1 |
Афіліація |
1Department of ECE, National Engineering College, Kovilpatti, India 2Department of ECE, Dayananda Sagar College of Engineering, Bangalore, India |
Е-mail | |
Випуск | Том 14, Рік 2022, Номер 5 |
Дати | Одержано 25 серпня 2022; у відредагованій формі 20 жовтня 2022; опубліковано online 28 жовтня 2022 |
Цитування | P. Parthasarathi, T.S. Arun Samuel, P. Vimala, N. Arumugam, Ж. нано- електрон. фіз. 14 № 5, 05008 (2022) |
DOI | https://doi.org/10.21272/jnep.14(5).05008 |
PACS Number(s) | 85.70. – w, 85.75. – d |
Ключові слова | SRAM (4) , FinFET (18) , Розсіювання потужності, BSIM4, Microwind. |
Анотація |
Вбудовані модулі SRAM є обов’язковими компонентами сучасних SoCs. У зв’язку зі збільшенням популярності портативних пристроїв із живленням від акумуляторів останнім часом багато уваги приділяється конструкціям мікросхем із низьким енергоспоживанням. Традиційні конструкції комірок SRAM є водночас енергоємними та неефективними в цю нову еру швидкісних мобільних обчислень. Дане дослідження зосереджено на розсіюванні потужності операцій читання та запису 12T SRAM комірки 14 нм FinFET при різних температурах. Розсіювання потужності запропонованої SRAM комірки було розраховано та порівняно з розсіюванням різних існуючих технологій. Модель BSIM4 із коротким каналом пропонується як 12T SRAM комірка 14 нм FinFET. Розсіювана потужність запропонованої 12T SRAM комірки становила 7,430 мкВт для читання та 12,278 мкВт для запису при температурі 45 C. Рекомендована SRAM комірка мала нижчу розсіювану потужність. Однак порогова напруга поступово знижувалася, оскільки розмір FinFET було зменшено з 65 до 14 нм. Для моделювання 14 нм FinFET використовувалися інструменти DSCH 3.8 і Microwind 3.8. |
Перелік посилань |