Автори | K. Mahi1,2 , R. Mostefa1 |
Афіліація |
1Department of Physics, Faculty of Matter Sciences, University of Tiaret, BP P 78 Zaaroura, Tiaret, Algeria 2Laboratory of Plasma Physics, Conductor Materials and their Applications, Faculty of Physics, Oran University of Sciences and Technology Mohamed Boudiaf USTO-MB, BP1505 Oran, Algeria |
Е-mail | khaled.mahi@univ-tiaret.dz |
Випуск | Том 14, Рік 2022, Номер 2 |
Дати | Одержано 11 березня 2022; у відредагованій формі 25 квітня 2022; опубліковано online 29 квітня 2022 |
Цитування | K. Mahi, R. Mostefa, Ж. нано- електрон. фіз. 14 № 2, 02025 (2022) |
DOI | https://doi.org/10.21272/jnep.14(2).02025 |
PACS Number(s) | 81.20.Ka, 81.07.Wx, 81.05.Je |
Ключові слова | Алюмінат магнію, Алюмінат барію, Структура шпінелі (2) , Золь-гель метод (4) , Порошковий синтез, Наноструктури (23) . |
Анотація |
Нанокристалічний порошок алюмінатів магнію/барію готували золь-гель методом автогоріння з нітратів Al, Mg та Ba. Елементи Mg і Ba є потенційними кандидатами для різних застосувань завдяки їх гнучкості, великої кількості у природі та чудовим електромагнітним характеристикам. Фазові перетворення, кристалічну структуру, функціональні групи, зв'язки в структурі та оптичні властивості отриманих порошків визначали за допомогою рентгенівської дифракції, інфрачервоної спектроскопії з перетворенням Фур'є (FTIR) та УФ-видимої спектроскопії. Показано, що електронні ширини забороненої зони MgAl2O4 і BaAl2O4, розраховані за допомогою методу Тауца, залишаються в основному незмінними, оскільки X (Mg або Ba) впроваджуються в решітку, утворюючи XAl2O4, але збільшуються більше ніж на 0,05 еВ для MgAl2O4. Результати рентгенівської дифракції показують, що при X-заміщенні збільшуються розмір кристалітів, об'єм комірки та параметр решітки. Включення атомів магнію та барію в XAl2O4 підтверджено спектроскопією FTIR. Результати показують, що шпінелі MgAl2O4 і BaAl2O4 можна отримати золь-гель методом автогоріння при кімнатній температурі (300 К), що призводить до отримання матеріалу високої чистоти та великої площі поверхні. |
Перелік цитувань |