Автори | Lucky Agarwal1 , K. Sambasiva Rao2, Ravi Prakash Dwivedi1 |
Афіліація |
1School of Electronics Engineering, Vellore Institute of Technology, 600127 Chennai, India 2Department of Electronics & Communication Engineering, Hindustan Institute of Technology, 600126 Chennai, India |
Е-mail | ravieciit@gmail.com |
Випуск | Том 14, Рік 2022, Номер 2 |
Дати | Одержано 12 лютого 2022; у відредагованій формі 18 квітня 2022; опубліковано online 29 квітня 2022 |
Цитування | Lucky Agarwal, K. Sambasiva Rao, Ravi Prakash Dwivedi, Ж. нано- електрон. фіз. 14 № 2, 02009 (2022) |
DOI | https://doi.org/10.21272/jnep.14(2).02009 |
PACS Number(s) | 42.79.Pw, 85.60.Gz |
Ключові слова | CZO (2) , Гомоперехід, Фотодіод (5) , Чутливість (25) , Тонка плівка (27) , ZnO (92) . |
Анотація |
ZnO вважається важливим напівпровідниковим матеріалом у II-VI групах метал оксидів завдяки винятковим оптичним властивостям, які переконують багатьох дослідників використовувати його у виготовленні фотодетекторів для ультрафіолетового (УФ) зондування. Чутливість фотодетектора вимірюється через його сприйнятливість. У статті автори повідомили про p-n гомоперехід на основі наноструктурованої тонкої плівки ZnO для застосування його як фотодетектора в УФ-області. ZnO p-типу був отриманий селективним легуванням ZnO міддю. Вимірювання Холла та зонда гарячої точки підтвердили, що осаджена тонка плівка ZnO (CZO), легована Cu, має провідність p-типу з питомим опором 0,9 Омсм, концентрацією носіїв 1,0287 1018 см – 3 і рухливістю 6,5 см2/Вс за кімнатної температури. Кристалічні морфологічні дослідження плівок ZnO проводили за допомогою рентгенівського дифрактометра (XRD), атомно-силової мікроскопії (AFM), енергодисперсійного спектру (EDAX). Вимірювання залежності струму від напруги (I-V) у темряві та при освітленні проводили з використанням аналізатора напівпровідникових пристроїв. Виготовлений пристрій має гарні властивості випрямлення із низьким зворотним струмом витоку та високим коефіцієнтом випрямлення. Виявилося, що пристрій стабільний і демонструє високе значення сприйнятливість 3,2 А/Вт при 376 нм для напруги зворотного зміщення 3 В. Виявлено, що продуктивність нового УФ-детектора з p-n переходом на основі ZnO перевершує існуючі фотодетектори з діодами Шотткі на основі ZnO. |
Перелік цитувань |