Two Dimensional Modeling of III-V Heterojunction Gate All Around Tunnel Field Effect Transistor
| Автори | Manjula Vijh1,2 , R.S. Gupta3 , Sujata Pandey4 |
| Приналежність | 1 Amity University Uttar Pradesh, Noida, India 2 Amity School of Engineering and Technology, New Delhi, India 3 Maharaja Agrasen Institute of Technology, New Delhi, India 4 Amity Institute of Telecom Engineering and Management, Amity University Uttar Pradesh, Noida, India |
| Е-mail | spandey11@gmail.com |
| Випуск | Том 9, Рік 2017, Номер 1 |
| Дати | Одержано 06.12.2016, у відредагованій формі - 08.02.2017, опубліковано online - 20.02.2017 |
| Посилання | Manjula Vijh, R.S. Gupta, Sujata Pandey, J. Nano- Electron. Phys. 9 No 1, 01030 (2017) |
| DOI | 10.21272/jnep.9(1).01030 |
| PACS Number(s) | 67.72.uj, 61.82.Fk, 71.55.Eq,85.30.De |
| Ключові слова | Surrounding gate Tunnel FET, Heterojunction (6) , Surface Potential (9) , Threshold Voltage (15) , Broken-gap (2) . |
| Анотація | Tunnel Field Effect Transistor is one of the extensively researched semiconductor devices, which has captured attention over the conventional Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor. This device, due to its varied advantages, is considered in applications where devices are scaled down to deep sub-micron level. Like MOSFETs, many geometries of TFETs have been studied and analyzed in the past few years. This work, presents a two dimensional analytical model for a III-V Heterojunction Surrounding Gate Tunneling Field Effect Transistor. 2-D Poisson’s equation in cylindrical coordinates has been solved to derive the expression of Surface Potential and threshold voltage of the device. A broken gap GaSb/InAs heterostructure has been considered in this work. Variation of potential profiles are shown with different gate and drain biases, by varying radius of the transistor,and different gate metals. Also, variation of threshold voltage is shown with respect to channel length and radius of the nanowire. |
|
Перелік посилань |
Інші статті цього номера
1) Effect of π Orbital on I/V Characteristics and Transmission in Molecular Diode Structures with Au Contacts [01001-1-01001-5]2) Analog Behavioral Modeling of Schottky Diode Using Spice [01002-1-01002-4]
3) Структурні та оптико-люмінесцентні характеристики керамік Mg1 – xZnxGa2O4: Mn2 + [01003-1-01003-6]
4) Thermal Modeling of an Integrated Circular Inductor [01004-1-01004-5]
5) Polyhedral Model of Carbon Nanotubes Analytically Describing their Geometry [01005-1-01005-6]
6) Сульфідна пасивація поверхні поруватого фосфіду індію [01006-1-01006-4]
7) Вплив умов росту кристалів телуриду кадмію з надстехіометричним кадміємна їх електрофізичні властивості [01007-1-01007-5]
8) Effect of Severe Plastic Deformation on Shape Memory and Mechanical Properties of Nanostructured Cu-Zn-Al Alloy [01008-1-01008-6]
9) Density Functional Study on Structural Stability and Electronic Properties of Neutral, Anionic and Cationic MgSe Nanostructures [01009-1-01009-6]
10) Визначення критичних значень параметрів електронного променю при поверхневому оплавленні оптичних елементів точного приладобудування [01010-1-01010-5]
11) Optical Properties of Pure and Eu Doped ZnSe Films Deposited by CSVS Technique [01011-1-01011-5]
12) Design of Novel Efficient Multiplexer Architecture for Quantum-dot Cellular Automata [01012-1-01012-7]
13) Метрологічне забезпечення імпульсних світлових вимірювань [01013-1-01013-5]
14) Characterization of the Microstructural and Mechanical Properties of MoZrN Coating [01014-1-01014-4]
15) Дослідження температурних полів теплоносія в установках отримання 3D наноструктурованого пористого поверхневого шару на гранулах аміачної селітри [01015-1-01015-4]
16) Вплив міжфазної межі розділу на параметри бар’єрних переходів метал-напівпровідник [01016-1-01016-4]
17) Поверхневі плазмони у вуглецевих нанотрубках еліптичного перерізу [01017-1-01017-4]
18) Магнітоопір модифікованих вуглецевих нанотрубок [01018-1-01018-7]
19) Термодинамічні властивості монокристалів кремнію, легованих домішкою бора [01019-1-01019-4]
20) Вплив одновісного тиску на σ2-провідність сильно легованого p-Si(B) [01020-1-01020-5]
21) A Processing in Memory Realization Using Quantum Dot Cellular Automata (QCA): Proposal and Implementation [01021-1-01021-5]
22) Design Device for Subthreshold Slope in DG Fully Depleted SOI MOSFET [01022-1-01022-4]
23) Memristor Effect in Ni/TiOx/p-Si/Ni and Ni/TiOx/p-Si/TiOx/Ni Heterojunctions [01023-1-01023-3]
24) DFT Study of Intrinsic and Induced p-type Conductivity of ZnO Material [01024-1-01024-6]
25) Resistive Switching Properties of Highly Transparent SnO2:Fe [01025-1-01025-5]
26) Role of the Temperature Dependence of Elastic Modulus in the Basic Characteristics of Giant Magnetically Induced Deformation of Ferromagnetic Martensite [01026-1-01026-3]
27) Hydroxyl Properties of Hydrogenated Germanosilicate Optical Fiber Due to Thermal Treatment and Ultraviolet Irradiation [01027-1-01027-4]
28) Структурні та оптичні властивості плівок Cu2ZnSnS4,отриманих методом пульсуючого спрей-піролізу [01028-1-01028-7]
29) Some Aspect of Modern Nanotechnology and Lazer Radiation in Cancer Treament [01029-1-01029-2]
30) Структура та механічні властивості гафнію легованого оксидом ітрію [01031-1-01031-5]
31) Структура і фізико-механічні властивості многоперіодной вакуумно-дугових покриттів на основі двошарової системи TiNx/ZrNx [01032-1-01032-6]
32) Структура і властивості вакуумно-дугових одношарових і багатоперіодних двошарових нітридних покриттів на основі шарів Ti(Al):Si [01033-1-01033-6]
