Автори | H.S. Gavale1, M. S. Wagh1, S.R. Gosavi2 |
Афіліація |
1P.G. Department of Physics, Pratap College, Amalner, 425401, M.S., India 2Material Research Laboratory, C.H.C. Arts, S.G.P. Commerce, and B.B.J.P. Science College, Taloda, 425413, M.S., India |
Е-mail | wmadhav19@gmail.com |
Випуск | Том 11, Рік 2019, Номер 4 |
Дати | Одержано 22 квітня 2019; у відредагованій формі 01 серпня 2019; опубліковано online 22 серпня 2019 |
Цитування | H.S. Gavale, M. S. Wagh, S.R. Gosavi, Ж. нано- електрон. фіз. 11 № 4, 04015 (2019) |
DOI | https://doi.org/10.21272/jnep.11(4).04015 |
PACS Number(s) | 68.47.Gh, 74.62.Dh, 81.15.Rs, 61.05.C, 78.66. – w |
Ключові слова | NiO (21) , Легований Fe, Спрей-піроліз (14) , XRD-дифракція, Оптоелектронні властивості. |
Анотація |
Тонкі плівки оксиду нікелю, легованого Fe (NiO:Fe), з різною концентрацією Fe (від 0 % до 10 %) вирощували на скляній підкладці методом спрей-піролізного розпилення. Досліджено вплив різних концентрацій Fe на структурні, морфологічні, оптичні та електричні властивості. Рентгенограми показують, що при низькій концентрації Fe в осадженій тонкій плівці з кубічною кристалічною структурою присутня тільки NiO, тоді як NiFe2O4 з'єднання з кубічною кристалічною структурою осідає при більш високій концентрації Fe. Встановлено, що розмір кристалітів плівок зменшується з 15.16 нм до 7.41 нм із збільшенням концентрації Fe. Морфологія виготовлених тонких плівок NiO:Fe вивчалася скануючою електронно-емісійною мікроскопією (FESEM) з енергодисперсійним спектрометром (EDS). Зображення FESEM показують, що легування Fe не впливало на морфологію тонких плівок NiO:Fe. Спектри EDS підтверджують утворення NiO, легованого Fe, на поверхні підкладки. Оптичні дослідження показали, що поглинання у видимій області збільшується зі збільшенням концентрації Fe. Оптична ширина забороненої зони зменшується зі збільшенням концентрації Fe. Всі плівки мають електричний опір порядка 104 Омсм, який збільшується з концентрацією Fe. |
Перелік цитувань |