Автори | Ю.М. Ажнюк1,2 , О.В. Гомоннай1,2 , Ю.І. Гутич1, В.В. Лопушанський1 , Д.Р.Т. Цан3 |
Афіліація |
1Інститут електронної фізики НАН України, вул. Університетська, 21, 88017 Ужгород, Україна 2Ужгородський національний університет, вул. Підгірна, 46, 88000 Ужгород, Україна 3Фізика напівпровідників, Кемніцький технічний університет, D-09107 Кемніц, Німеччина |
Е-mail | |
Випуск | Том 14, Рік 2022, Номер 4 |
Дати | Одержано 12 квітня 2022; у відредагованій формі 08 серпня 2022; опубліковано online 25 серпня 2022 |
Цитування | Ю.М. Ажнюк, О.В. Гомоннай, Ю.І. Гутич та ін., Ж. нано- електрон. фіз. 14 № 4, 04017 (2022) |
DOI | https://doi.org/10.21272/jnep.14(4).04017 |
PACS Number(s) | 78.67.Bf |
Ключові слова | Нанокристали (18) , Дифузійно-лімітований ріст, Фотолюмінесценція (29) , Раманівська спектроскопія. |
Анотація |
Нанокристали (НК) CdSe1 – xTex отримано методом дифузійно обмеженого росту в боросилікатному склі і досліджено методами спектроскопії поглинання, фотолюмінесценції (ФЛ) і раманівського розсіювання світла. Проаналізовано кілька підходів до визначення хімічного складу НК за даними раманівської спектроскопії. На основі раманівських даних показано, що для НК CdSe1 – xTex з проміжним x (0.4 < x < 0.6) вміст Te дещо понижується зі зростанням температури і тривалості термообробки. Квантово-розмірні максимуми у спектрах оптичного поглинання вкраплених у скло НК CdSe1 – xTex дають змогу визначити їх середній розмір, а розмитий характер максимумів свідчить про помітну дисперсію розміру. У спектрах ФЛ вкраплених у скло НК CdSe1 – xTex домінує досить вузький пік прикрайової ФЛ з малим стоксівським зміщенням. а більш низькоенергетична смуга ФЛ з участю поверхневих станів проявляється тільки у вигляді плеча і зникає зі зростанням вмісту Te. |
Перелік посилань |