Оптична діагностика нанокристалів CdSe1 – xTex, вирощених у боросилікатному склі

Автори Ю.М. Ажнюк1,2 , О.В. Гомоннай1,2 , Ю.І. Гутич1, В.В. Лопушанський1 , Д.Р.Т. Цан3
Приналежність

1Інститут електронної фізики НАН України, вул. Університетська, 21, 88017 Ужгород, Україна

2Ужгородський національний університет, вул. Підгірна, 46, 88000 Ужгород, Україна

3Фізика напівпровідників, Кемніцький технічний університет, D-09107 Кемніц, Німеччина

Е-mail
Випуск Том 14, Рік 2022, Номер 4
Дати Одержано 12 квітня 2022; у відредагованій формі 08 серпня 2022; опубліковано online 25 серпня 2022
Посилання Ю.М. Ажнюк, О.В. Гомоннай, Ю.І. Гутич та ін., Ж. нано- електрон. фіз. 14 № 4, 04017 (2022)
DOI https://doi.org/10.21272/jnep.14(4).04017
PACS Number(s) 78.67.Bf
Ключові слова Нанокристали (18) , Дифузійно-лімітований ріст, Фотолюмінесценція (29) , Раманівська спектроскопія.
Анотація

Нанокристали (НК) CdSe1 – xTex отримано методом дифузійно обмеженого росту в боросилікатному склі і досліджено методами спектроскопії поглинання, фотолюмінесценції (ФЛ) і раманівського розсіювання світла. Проаналізовано кілька підходів до визначення хімічного складу НК за даними раманівської спектроскопії. На основі раманівських даних показано, що для НК CdSe1 – xTex з проміжним x (0.4 < x < 0.6) вміст Te дещо понижується зі зростанням температури і тривалості термообробки. Квантово-розмірні максимуми у спектрах оптичного поглинання вкраплених у скло НК CdSe1 – xTex дають змогу визначити їх середній розмір, а розмитий характер максимумів свідчить про помітну дисперсію розміру. У спектрах ФЛ вкраплених у скло НК CdSe1 – xTex домінує досить вузький пік прикрайової ФЛ з малим стоксівським зміщенням. а більш низькоенергетична смуга ФЛ з участю поверхневих станів проявляється тільки у вигляді плеча і зникає зі зростанням вмісту Te.

Перелік посилань