Фоточутливі гетеропереходи CuFeO2/n-InSe

Автори І.Г. Ткачук1 , І.Г. Орлецький2 , В.І. Іванов1 , А.В. Заслонкін1 , З.Д. Ковалюк1
Приналежність

1Інститут проблем матеріалознавства імені І.М. Францевича НАН України, Чернівецьке відділення, вул. І. Вільде, 5, 58001 Чернівці, Україна

2Чернівецький національний університет імені Юрія Федьковича, вул. Коцюбинського, 2, 58012 Чернівці, Україна

Е-mail ivan.tkachuk.1993@gmail.com
Випуск Том 14, Рік 2022, Номер 4
Дати Одержано 04 червня 2022; у відредагованій формі 10 серпня 2022; опубліковано online 25 серпня 2022
Посилання І.Г. Ткачук, І.Г. Орлецький, В.І. Іванов, та ін., Ж. нано- електрон. фіз. 14 № 4, 04016 (2022)
DOI https://doi.org/10.21272/jnep.14(4).04016
PACS Number(s) 73.40. – c, 78.66. – w
Ключові слова Селенід індію (11) , CuFeO2, Електропровідність (30) , Фоточутливість (6) .
Анотація

Методом низькотемпературного спрей-піролізу виготовлено фоточутливі анізотипні гетеропереходів CuFeO2/n-InSe. На нагріту до 623 K підкладку InSe розпилювався водний розчин солей двохлористої міді CuCl2∙2H2O і трихлористого заліза FeCl3∙6H2O. В результаті отримувались плівки CuFeO2 р-типу із товщиною ~ 0,3 мкм та шириною забороненої зони 2,6 еВ. Контакти формувалися з використанням струмопровідної пасти на основі срібла. Проведено дослідження ВАХ при температурах від 295 до 336 K. Показано, що температурна залежність висоти потенціального бар'єру є лінійною. На основі аналізу температурних залежностей прямих та обернених ВАХ встановлено динаміку зміни енергетичних параметрів та з'ясовано роль енергетичних станів на межі гетеропереходу у формуванні контактної різниці потенціалів. Проведено апроксимацію ВАХ в рамках моделі, що враховує вплив послідовного та шунтуючого опорів. Знайдено значення діодного коефіцієнту, послідовного та шунтуючого опорів гетеропереходу. Визначено механізми формування прямого та зворотного струмів через енергетичний бар'єр CuFeO2/n-InSe. Досліджено спектральну залежність квантової ефективності опроміненої з боку CuFeO2 гетероструктури в діапазоні енергій фотонів від 1,2 до 3,2 еВ. Проаналізовано вплив поглинання світла в матеріалах гетероструктури на її загальну фоточутливість. Отримані результати підтверджують перспективність гетероструктур CuFeO2/n-InSe для фотоелектроніки.

Перелік посилань