Автори | O.O. Птащенко1, Ф.O. Птащенко2, В.Р. Гільмутдінова1, О.С. Кирничук1 |
Афіліація |
1Oдеський національний університет імені I.I. Meчникова, вул. Дворянська, 2, 65026 Одеса, Україна 2Національний університет "Одеська морська академія", вул. Дідріхсона, 8, 65029 Одеса, Україна |
Е-mail | aptash@onu.edu.ua |
Випуск | Том 10, Рік 2018, Номер 3 |
Дати | Одержано 26.12.2017, у відредагованій формі – 06.06.2018, опубліковано online 25.06.2018 |
Цитування | O.O. Птащенко, Ф.O. Птащенко, В.Р. Гільмутдінова, О.С. Кирничук, Ж. нано- електрон. фіз. 10 № 3, 03022 (2018) |
DOI | https://doi.org/10.21272/jnep.10(3).03022 |
PACS Number(s) | 07.07.Df, 68.47.Fg |
Ключові слова | Кремній (91) , p-n перехід (4) , Газовий сенсор (2) , Аміак (7) , Поріг чутливості, Рівень легування (5) . |
Анотація |
Експериментально досліджено характеристики кремнієвих дифузійних p-n переходів як сенсорів парів води і аміаку в широкому діапазоні значень градієнта концентрації домішок a. Встановлено, що зменшення величини a від 6·1023 см – 4 до 5·1019 см – 4 знижує поріг чутливості Pm p-n структур до парів NH3 (тобто, мінімальний парціальний тиск парів, який можна зареєструвати) на два порядки, до значень біля 0,5 Па. Ця величина значно нижча, ніж у мембран із мезопористого кремнію і кремнієвих нанодротів, виготовлених із пластин з концентрацією домішки бору 1018 см – 3. Розкид порогу чутливості серед досліджених зразків пояснюється впливом неконтрольованих поверхневих центрів. Обробка зразків послідовно у HF і воді різко підвищує поріг чутливості, а витримка у водному розчині Na2S значно знижує його. |
Перелік посилань English version of article |