Автори | N.F. Zikrillaev1, G.H. Mavlonov1, L. Trabzon2, S.B. Isamov1 , Y.A. Abduganiev1, Sh.N. Ibodullaev1 G.A. Kushiev1 |
Афіліація |
1Tashkent State Technical University, 100095 Tashkent, Uzbekistan 2Istanbul Technical University, Faculty of Mechanical Engineering Gumussuyu 34437 Istanbul, Turkey |
Е-mail | |
Випуск | Том 15, Рік 2023, Номер 6 |
Дати | Одержано 20 серпня 2023; у відредагованій формі 22 грудня 2013; опубліковано online 27 грудня 2023 |
Цитування | N.F. Zikrillaev, G.H. Mavlonov, L. Trabzon, та ін., Ж. нано- електрон. фіз. 15 № 6, 06001 (2023) |
DOI | https://doi.org/10.21272/jnep.15(6).06001 |
PACS Number(s) | 61.05.cp; 61.82. F k; 73.43.Qt |
Ключові слова | AFM (18) , XRD (97) , Брегг-Брентано, Рентгенівське випромінювання (5) , Стала ґратки, Індекс Міллера, Кут Брегга. |
Анотація |
Методом Ван-дер-Пау (ВДП) досліджено електричні параметри дифузійно легованих атомами європію зразків кремнію. Експериментальні результати, зокрема морфологію поверхні, досліджували за допомогою атомно-силового мікроскопа (АСМ). Стала ґратки матеріалів була розрахована за допомогою закону Брегга-Брентано з використанням рентгенівської дифракції на рентгенограмі зразка Si<P,Eu>. |
Перелік посилань |