InN-діоди Ганна субміліметрового діапазону з варізонним GaInN-інжектором

Автори І. Стороженко1, П. Сіренко2
Афіліація

1Державний біотехнологічний університет, 61002 Харків, Україна

2Ризький університет імені Страдіня, LV-1007 Рига, Латвія

Е-mail prof.igor.storozhenko@gmail.com
Випуск Том 18, Рік 2026, Номер 3
Дати Одержано 29 березня 2026; у відредагованій формі 17 червня 2026; опубліковано online 26 червня 2026
Цитування І. Стороженко, П. Сіренко, Ж. нано- електрон. фіз. 18 № 3, 03031 (2026)
DOI https://doi.org/10.21272/jnep.18(3).03031
PACS Number(s) 85.30.Fg, 73.40.Kp, 72.20.Ht
Ключові слова Діод Ганна (3) , Прилади на міждолинному перенесенні електронів, Варізонний напівпровідник (2) , нітрид індію (4) , ТГц-діапазон (2) , GaInN інжектор, Гарячі електрони, Домени об’ємного заряду, НДО (5) , Власні коливання (2) .
Анотація

Розробка ефективних твердотільних джерел субміліметрового діапазону хвиль є ключовим викликом для напівпровідникової електроніки. У цій роботі представлено теоретичне дослідження високочастотних коливань у субмікронних діодах Ганна на основі InN із градієнтним за складом інжектором GaInN поблизу катода. У дослідженні використано тридолинну гідродинамічну модель перенесення електронів, адаптовану для варізонних III-нітридних структур з урахуванням параметрів, що залежать від координати. Ця модель інтегрована в самоузгоджену систему, яка пов’язує рівняння приладу з еквівалентним резонансним контуром і рівнянням Пуассона. На відміну від короткострокового моделювання, цей підхід аналізує стабільну генерацію протягом тисяч циклів, забезпечуючи реалістичні оцінки ВЧ-потужності, ККД та перехідних процесів. Результати показують, що варізонний інжектор GaInN суттєво модифікує динаміку хвиль просторового заряду, сприяючи переходу від дрейфу шару накопичення до нестійкості дипольного домену. Моделювання демонструє, що оптимізація довжини та складу області GaInN суттєво знижує порогову концентрацію електронів для виникнення нестійкості струму. Виявлено специфічний режим «неповного дрейфу домену», за якого шари просторового заряду розсмоктуються в активній області, не досягаючи анода. Це забезпечує частоти до 391 ГГц у приладі довжиною 1,0 мкм, що перевищує основні частоти гомогенних InN-структур. Діод із шаром GaInN товщиною 0,2 мкм забезпечує пікову потужність 116,8 мВт на частоті 300,7 ГГц, що на порядки перевищує показники існуючих приладів на основі InGaAs та InP. У статті також розглядаються проблеми технологічної реалізації, управління температурою та ризик ударної іонізації. Продемонстровано, що діоди на основі InN з інжектором GaInN потенційно можуть бути використані для досягнення коливань у діапазоні суб-ТГц діапазоні.

Перелік посилань