| Автори | О.С. Мельник, О.О. Нагайченко |
| Афіліація |
Національний університет «Київський авіаційний інститут», 03058 Київ, Україна |
| Е-mail | oleksandr.melnyk@npp.kai.edu.ua |
| Випуск | Том 18, Рік 2026, Номер 3 |
| Дати | Одержано 02 квітня 2026; у відредагованій формі 19 червня 2026; опубліковано online 26 червня 2026 |
| Цитування | О.С. Мельник, О.О. Нагайченко, Ж. нано- електрон. фіз. 18 № 3, 03012 (2026) |
| DOI | https://doi.org/10.21272/jnep.18(3).03012 |
| PACS Number(s) | 85.35.Be, 85.35.Gv |
| Ключові слова | Одноелектронна наноелектроніка, Автоматизоване проєктування, Кріогенна температура, Дисипація енергії, Дефектостійкість наносхем. |
| Анотація |
Представлено аналіз результатів, отриманих у процесі автоматизованого проектування нанопристроїв на основі квантово-точкових клітинних автоматів з використанням сучасних одноелектронних САПР, таких як QCADesigner, QCADesigner-E та QCADesigner-FS. На прикладі схеми наномультиплексора було проведено функціональне, температурно-залежне, термоенергетичне та ймовірнісне дефектоорієнтоване моделювання. Показано, що сучасні пакети САПР дозволяють не тільки синтезувати топологію наносхеми, але й всебічно оцінити її працездатність, енергоефективність та стійкість до структурних дефектів. Зрештою було встановлено, що досліджуваний наномультиплексор коректно реалізує функцію селекції сигналу; однак він залишається працездатним лише в обмеженому кріогенному діапазоні температур. Енергетичний аналіз виявив періодичну поведінку компонентів дисипації, пов'язаних з фазами тактування, тоді як моделювання за допомогою QCADesigner-FS підтвердило значну залежність ймовірності помилки від чотирьох типів дефектів, викликаних процесом, рівня несправності та топологічного розміщення комірок. Найбільш вразливими елементами виявилися функціонально критичні вузли, пов'язані з введенням сигналу, керуванням та формуванням виходу. |
|
Перелік посилань |