| Автори | Р.С. Чикун, І.М. Бондаренко, О.В. Глухов , В.А. Чекубашева |
| Афіліація |
Харківський національний університет радіоелектроніки, 61166 Харків, Україна |
| Е-mail | roman.chykun@nure.ua |
| Випуск | Том 18, Рік 2026, Номер 3 |
| Дати | Одержано 15 березня 2026; у відредагованій формі 21 червня 2026; опубліковано online 26 червня 2026 |
| Цитування | Р.С. Чикун, І.М. Бондаренко, О.В. Глухов, В.А. Чекубашева, Ж. нано- електрон. фіз. 18 № 3, 03013 (2026) |
| DOI | https://doi.org/10.21272/jnep.18(3).03013 |
| PACS Number(s) | 84.40. – x, 07.57.kp |
| Ключові слова | Мікросмужкові лінії, Діелектрична проникність (28) , Леговані напівпровідники, Щілини (2) , Резонанс (66) , Діелектричні підкладки. |
| Анотація |
У роботі представлено концепцію мікросмужкового резонансного сенсора, який призначений для неруйнівного контролю концентрації домішок у напівпровідникових структурах. Конструкція сенсора побудована на двох зв’язаних мікросмужкових лініях з локалізованим електричним полем у вузькій щілині, що забезпечує високу чутливість до зміни ефективної діелектричної проникності та внутрішніх втрат матеріалу. Для аналізу роботи пристрою виконано повнохвильове моделювання в програмному середовищі Ansys HFSS, у якому відтворено реальну геометрію та фізичні параметри сенсора, параметри підкладки Rogers RO3003 та характеристики введеного зразка.Досліджено три стани заповнення щілини: повітрям, монокристалічним кремнієм та легованим кремнієм з підвищеною концентрацією вільних носіїв. Показано, що введення кремнію спричиняє зсув резонансної частоти у нижчу область спектра через збільшення ефективної проникності, а присутність легування додатково знижує добротність та розширює резонансний провал |S21| внаслідок зростання електромагнітних втрат. Отримані залежності S-параметрів підтверджують здатність використання сенсора для розрізнення матеріали з близькими параметрами та визначення рівню легування за характером зміщення частоти й зміною добротності. Запропонована структура демонструє високу чутливість та відтворюваність і може бути використана для швидкого неруйнівного контролю кремнієвих матеріалів у гігагерцовому діапазоні а також бути впроваджена в серійне виробництво. |
|
Перелік посилань |