Створення мікросмужкового сенсора гігагерцового діапазону для контролю легування напівпровідникових структур

Автори Р.С. Чикун, І.М. Бондаренко, О.В. Глухов , В.А. Чекубашева
Афіліація

Харківський національний університет радіоелектроніки, 61166 Харків, Україна

Е-mail roman.chykun@nure.ua
Випуск Том 18, Рік 2026, Номер 3
Дати Одержано 15 березня 2026; у відредагованій формі 21 червня 2026; опубліковано online 26 червня 2026
Цитування Р.С. Чикун, І.М. Бондаренко, О.В. Глухов, В.А. Чекубашева, Ж. нано- електрон. фіз. 18 № 3, 03013 (2026)
DOI https://doi.org/10.21272/jnep.18(3).03013
PACS Number(s) 84.40. – x, 07.57.kp
Ключові слова Мікросмужкові лінії, Діелектрична проникність (28) , Леговані напівпровідники, Щілини (2) , Резонанс (66) , Діелектричні підкладки.
Анотація

У роботі представлено концепцію мікросмужкового резонансного сенсора, який призначений для неруйнівного контролю концентрації домішок у напівпровідникових структурах. Конструкція сенсора побудована на двох зв’язаних мікросмужкових лініях з локалізованим електричним полем у вузькій щілині, що забезпечує високу чутливість до зміни ефективної діелектричної проникності та внутрішніх втрат матеріалу. Для аналізу роботи пристрою виконано повнохвильове моделювання в програмному середовищі Ansys HFSS, у якому відтворено реальну геометрію та фізичні параметри сенсора, параметри підкладки Rogers RO3003 та характеристики введеного зразка.Досліджено три стани заповнення щілини: повітрям, монокристалічним кремнієм та легованим кремнієм з підвищеною концентрацією вільних носіїв. Показано, що введення кремнію спричиняє зсув резонансної частоти у нижчу область спектра через збільшення ефективної проникності, а присутність легування додатково знижує добротність та розширює резонансний провал |S21| внаслідок зростання електромагнітних втрат. Отримані залежності S-параметрів підтверджують здатність використання сенсора для розрізнення матеріали з близькими параметрами та визначення рівню легування за характером зміщення частоти й зміною добротності. Запропонована структура демонструє високу чутливість та відтворюваність і може бути використана для швидкого неруйнівного контролю кремнієвих матеріалів у гігагерцовому діапазоні а також бути впроваджена в серійне виробництво.

Перелік посилань