Синтез тонких плівок надпровідника NiS з високою електропровідністю

Автори A. Sbaihi1,2, 3 , S. Benramache2 , C.Benbrika3
Приналежність

1Laboratoire des Matériaux Semi-Conducteurs et Métalliques, University of Biskra 07000, Algeria

2Laboratoire des Matériaux, des Énergies et de l’Environnement, University of Biskra 07000, Algeria

3Material Sciences Department, Faculty of Science, University of Biskra 07000, Algeria

Е-mail saidbenramache07@gmail.com
Випуск Том 16, Рік 2024, Номер 1
Дати Одержано 12 грудня 2023; у відредагованій формі 20 лютого 2024; опубліковано online 28 лютого 2024
Посилання A. Sbaihi, S. Benramache, C.Benbrika, Ж. нано- електрон. фіз. 16 № 1, 01022 (2024)
DOI https://doi.org/10.21272/jnep.16(1).01022
PACS Number(s) 74.25.fc
Ключові слова NiS (17) , Спрей піроліз, Тонка плівка (23) , Рентгенівська дифракція (21) .
Анотація

У цій роботі представлені результати досліджень фізичних властивостей наноструктурних тонких плівок сульфіду нікелю (NiS), які були нанесені на нагріті скляні підкладки (T = 250 °C) за допомогою технології розпилювального піролізу (SPT) з використанням різних концентрацій прекурсорів. Два джерела розчину: гіксагідрат нітратів нікелю {(Ni(NO3)2.6H2O)=X} і тіосечовина {(CS(NH2)2)=Y}: {30% [X].70%[Y]}, {33%[X].67% [Y]}&{37% [X]. 63 % [Y]} із фіксацією інших експериментальних умов. Результати рентгенівського дифракційного аналізу показали, що всі зразки тонких плівок сульфіду нікелю (NiS) є полікристалічними в гексагональній фазі та мають переважну орієнтацію (010). Розмір кристаліту (D) оцінювався за співвідношенням Дебая-Шеррера і становив у діапазоні від 9,915 нм до 22,148 нм. Виникнення зв’язку Ni-S, що відповідає частоті 668,563 см – 1, було підтверджено аналізом FTIR. Енергія забороненої зони змінювалася для зразків від 0,87, 0,88 до 0,92 еВ. Опір пластини (Rsh) було виміряно за допомогою чотириточкового методу, який використовувався для визначення провідності зразків.

Перелік посилань