Автори | R.A. Zargar1, Muzaffar Iqbal Khan1, Tuiba Mearaj2, Faisal Bashir3, Yassar Arfat4, Joginder Singh5,6, Kuldeep Kumar7 |
Афіліація |
1Department of Physics, BGSBU, 185234 Rajouri (J&K), India 2Centre for Nanoscience and Nanotechnology, JMI, 10025 New Delhi, India 3Department of Electronics and Intstrumentation Technology, Kashmir University, 190006 Srinagar (J&K), India 4Department of Electrical Engineering, BGSBU, 185234 Rajouri (J&K), India 5Department of Physics, GDC-Nowshera, 185151 Rajouri, India 6Department of Physics, JJT University, 333001 Rajasthan, India 7Department of Physics, GDC Akhnoor, 181201 India |
Е-mail | rayeesphy12@gmail.com |
Випуск | Том 16, Рік 2024, Номер 1 |
Дати | Одержано 15 грудня 2023; у відредагованій формі 15 лютого 2024; опубліковано online 28 лютого 2024 |
Цитування | R.A. Zargar, Muzaffar Iqbal Khan, Tuiba Mearaj, та ін., Ж. нано- електрон. фіз. 16 № 1, 01008 (2024) |
DOI | https://doi.org/10.21272/jnep.16(1).01008 |
PACS Number(s) | 42.62.Fi, 61.46. – W, 77.22. – d |
Ключові слова | TiO2 (17) , Розпилювальний піроліз (4) , Заборонена зона (21) , Показник заломлення (11) . |
Анотація |
Техніка розпилювального піролізу була застосована для осадження широкого діапазону тонких плівок, які використовуються в різних пристроях, таких як сонячні елементи, датчики та твердооксидні паливні елементи. Розпилювальний піроліз є одним із найпоширеніших, недорогих, простих і досить універсальних методів синтезу багатокомпонентних оксидних тонких плівок субмікронних і сферичних люмінесцентних матеріалів. У цій статті тонкі плівки розпиленого піролізу TiO2 були нанесені на скляні підкладки та витримані при різних температурах, щоб виявити їх оптичні властивості за допомогою УФ-видимої спектроскопії. Показник заломлення (n) тонких плівок TiO2 як широкого напівпровідника було розраховано з використанням оптичної щілини (Eg). Розраховані значення показника заломлення за новими співвідношеннями були порівняні зі значеннями, повідомленими різними дослідниками; між ними була досягнута чудова угода. Ідентифікація матеріалу була підтверджена методами дифракції рентгенівських променів, і була побудована перша похідна спектрів пропускання, яка відповідно дає значення ширини забороненої зони плівок. |
Перелік посилань |