Вплив температури на характеристики N-канального польового транзистора GaP Fin (GaP-FinFET)

Автори Y. Hashim
Приналежність

Tishk International University, Computer Engineering Department, Erbil, Kurdistan Region, Iraq

Е-mail yasir.hashim@tiu.edu.iq
Випуск Том 16, Рік 2024, Номер 1
Дати Одержано 04 січня 2024; у відредагованій формі 18 лютого 2024; опубліковано online 28 лютого 2024
Посилання Y. Hashim, Ж. нано- електрон. фіз. 16 № 1, 01018 (2024)
DOI https://doi.org/10.21272/jnep.16(1).01018
PACS Number(s) 62.23.Hj, 87.85.Dh
Ключові слова GaP (43) , FinFET (16) , N-канал, Температура (34) , Сенсор (40) .
Анотація

У цьому дослідженні аналізується вплив температури на характеристики передачі, порогову напругу, співвідношення ION/IOFF, зниження бар’єру, викликаного стоком (DIBL), і підпорогове коливання (SS) у N-канальному фосфідному галієвому транзисторі (FinFET). Температурні властивості GaP-FinFET були вивчені за допомогою інструменту моделювання (MuGFET). Через нижче співвідношення ION/IOFF, вищий DIBL і вищий SS при вищих температурах результати показують шкідливий вплив підвищеної робочої температури на використання GaP-FinFET в електронних схемах, таких як цифрові схеми та схеми підсилювачів. Крім того, найкращою ситуацією для використання транзистора як температурного нанодатчика є його увімкнений стан.

Перелік посилань