Синтез та характеристика температурно-контрольованих наночастинок SnO2, виготовлених методом твердотільної реакції

Автори Vijay Garg1, Harsh Sharma1, Divya Rehani2,3, Renu Kumari2,4, Vipin Kumar4, Manoj Kumar Tiwari5, Shailesh Narain Sharma3,6, Manish Saxena7
Приналежність

1Department of Physics, M.M. College Modinagar, 201204 Ghaziabad (U.P), India

2Dr. A.P.J. Abdul Kalam Technical University, 226031 Lucknow (U.P.), India

3Council of Scientific & Industrial Research-National Physical Laboratory, 110012 New Delhi, India

4Department of Physics, KIET Group of Institutions, 201206 Ghaziabad (U.P.), India

5Department of Electronics, Bhaskaracharya College of Applied Science, Delhi University, 110075 Delhi, India

6Academy of Scientific and Innovative Research ACSIR, 201002 Ghaziabad (U.P.), India

7Moradabad Institute of Technology, 244001 Moradabad, India

 

Е-mail drvgarg78@gmail.com
Випуск Том 12, Рік 2020, Номер 4
Дати Одержано 14 квітня 2020; у відредагованій формі 20 серпня 2020; опубліковано online 25 серпня 2020
Посилання Vijay Garg, Harsh Sharma, Divya Rehani, та ін., Ж. нано- електрон. фіз. 12 № 4, 04004 (2020)
DOI https://doi.org/10.21272/jnep.12(4).04004
PACS Number(s) 61.05.C, 61.82.Rx, 68.37.Hk, 82.20.Fw
Ключові слова Оксид олова (8) , Наночастинки (71) , Температура (34) , Дифракція (40) , Тетрагональний.
Анотація

У роботі наночастинки оксиду олова (SnO2), відпалені при температурах 400, 500 та 600 °C, були підготовлені методом твердотільної реакції. Структурні та оптичні властивості підготовлених наночастинок SnO2 аналізували за допомогою рентгенівського дифрактометра (XRD) та скануючого електронного мікроскопа (SEM). Елементне дослідження було виконано енергетично-дисперсійною рентгенівською спектроскопією (EDAX), інфрачервоною спектроскопією з використанням перетворення Фур'є (FTIR), методами динамічного розсіювання світла (DLS) та поглинання світла в ультрафіолетовому та видимому діапазонах (UV-Vis). Рентгенівська дифрактограма підтверджує чисту тетрагональну структуру рутилу наночастинок SnO2 без будь-якої домішкової фази. SEM зображення відображають утворення нанострижнів при всіх температурах відпалу 400, 500 і 600 °C, тоді як EDAX аналіз підтверджує наявність Sn і O без будь-яких домішок. UV-Vis спектри показують, що ширина забороненої зони підготовлених наночастинок SnO2 спочатку зменшується з 3,44 еВ при температурі 400 °С до 3,03 еВ при 500 °С, а потім збільшується до 3,39 еВ при температурі 600 °С. Спектр FTIR підтверджує наявність зв'язку O–Sn–O разом з одним небажаним піком поглинання.

Перелік посилань