Автори | А.Г. Васильєв1 , Т.А. Васильєв1 , Р.О. Железняк1 , Т.П. Дорошенко2 |
Афіліація |
1Інститут високих технологій Київського національного університету імені Тараса Шевченка, пр. Академіка Глушкова, 4Г, 03127 Київ, Україна 2Інститут фізики напівпровідників імені В. Лашкарьова НАН України, пр. Науки, 41, 03028 Київ, Україна |
Е-mail | a.g.vasiliev56@gmail.com |
Випуск | Том 13, Рік 2021, Номер 6 |
Дати | Одержано 29 вересня 2021; у відредагованій формі 02 грудня 2021; опубліковано online 20 грудня 2021 |
Цитування | А.Г. Васильєв, Т.А. Васильєв, Р.О. Железняк, Т.П. Дорошенко, Ж. нано- електрон. фіз. 13 № 6, 06008 (2021) |
DOI | https://doi.org/10.21272/jnep.13(6).06008 |
PACS Number(s) | 73.20.Mf, 66.30.jt, 66.30.jp, 78.90. + t |
Ключові слова | Водень (6) , Електроліз (3) , Обробка воднем (2) , Дифузія водню (2) , Золота плівка на склі, Поверхневий плазмонний резонанс (6) . |
Анотація |
У роботі наведено експериментальні та теоретичні дослідження змін оптичних властивостей датчиків SPR під впливом водню. Теоретичне моделювання обробленого водневого датчика SPR проведено з використанням методу трансфер-матриць та наближень ефективного середовища. Під час моделювання розглядалися різні можливості впливу водню. Встановлено, що накопичення водню на межі розділу скло-хром не може змінити спектр SPR. Експериментально спостережувані зміщення у спектрі SPR в основному були пов'язані з накопиченням водню у всіх товщах шару золота шляхом утворення порожнин, заповнених воднем. Накопичення водню в об'ємі золотої плівки також призвело до збільшення резонансного значення SPR. Навпаки, теоретичне моделювання збільшення шорсткості поверхні золота передбачило зменшення амплітуди резонансу. В результаті було запропоновано комплексний теоретичний опис процесів, які відбувалися в датчиках SPR під час обробки воднем. Передбачення були такими. Коливання поверхневого рівня перед обробкою воднем становили 2 нм, а через можливість руйнування поверхні коливання поверхневого рівня були збільшені до 3 нм. Шар «твердого» золота до обробки воднем становив 48,5 нм, а після дії водню він збільшився до 53,35 нм. Середня об'ємна концентрація порожнин у цьому шарі становила приблизно 10 %. Порожнини з воднем однорідно розподілялися по об'єму. Товщина шару хрому до обробки воднем становила 5 нм, а після обробки воднем товщина цього шару була збільшена до 6 нм. Обсяг порожнин з воднем у хромі становив 20 %. |
Перелік посилань |