Автори | Я.П. Салій1 , І.І. Чав’як2, І.С. Биліна1 , Д.М. Фреїк1 |
Афіліація | 1 Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника, вул. Шевченка, 57, 76018 Івано-Франківськ, Україна 2 Івано-Франківський національний медичний університет, вул. Галицька, 2, 76000 Івано-Франківськ, Україна |
Е-mail | vanjabylina@gmail.com |
Випуск | Том 6, Рік 2014, Номер 4 |
Дати | Одержано 05.08.2014, опубліковано online - 29.11.2014 |
Цитування | Я.П. Салій, І.І. Чав’як, І.С. Биліна, Д.М. Фреїк, Ж. нано- електрон. фіз. 6 № 4, 04020 (2014) |
DOI | |
PACS Number(s) | 64.60.Gj, 68.03.Fg |
Ключові слова | Станум телурид, Наноструктури (23) , Парофазні технології, Атомно-силова мікроскопія (16) , Процеси росту. |
Анотація | Наведено результати дослідження наноструктур на поверхні тонких плівок станум телуриду, осаджених з парової фази на підкладках поліаміду методом відкритого випаровування у вакуумі. Комп’ютерний аналіз результатів атомно-силової мікроскопії виявив вплив технологічних факторів на особливості форм та поверхневої орієнтації наноострівців. Показано, що наноструктури різного розміру є куполоподібними з малим відношенням їх висоти до латерального діаметру. Встановлено слабку залежність симетрії острівців від технологічних факторів осадження. |
Перелік посилань |