Автори | Shib Shankar Biswas1,2, Amit Kumar Kundu3, Hari Shankar Biswas1 , Dilip Kumar Maiti4 |
Афіліація | 1Department of Chemistry, Surendranath College, 700009 Kolkata, India 2Department of Physics, Surendranath College, 700009 Kolkata, India 3Department of Chemistry, Sripat Singh College, Jiaganj, Murshidabad, Pin 742123, India 4Department of Chemistry, University of Calcutta, University College of Science, 700009 Kolkata, India |
Е-mail | harishankarb7@gmail.com |
Випуск | Том 17, Рік 2025, Номер 4 |
Дати | Одержано 14 квітня 2025; у відредагованій формі 15 серпня 2025; опубліковано online 29 серпня 2025 |
Цитування | Shib Shankar Biswas, Amit Kumar Kundu, Hari Shankar Biswas, Dilip Kumar Maiti, Ж. нано- електрон. фіз. 17 № 4, 04017 (2025) |
DOI | https://doi.org/10.21272/jnep.17(4).04017 |
PACS Number(s) | 61.48.Gh, 68.65.Pq, 81.05.ue |
Ключові слова | Оксид графену (7) , Сольвотермічний синтез, DMF (2) , Матеріали на основі графену. |
Анотація | У цьому дослідженні представлено синтез та характеристику тонкої плівки оксиду графену (GO), отриманої сольвотермічним методом, оптимізованим для тонкошарового GO. Оксид графену, отриманий з графітових лусочок, відомий своєю універсальністю в таких застосуваннях, як електроніка, накопичення енергії та каталіз, завдяки своїй шаруватій структурі, поверхневим кисневим функціональним групам та розчинності. У цій роботі GO було синтезовано сольвотермічним методом у N,N-диметилформаміді (DMF), що посилило розшаровування оксиду графіту на тонкі листи GO. Використання DMF сприяло ефективному розділенню шарів, що призвело до отримання кількашарового GO з рівномірною товщиною. Синтезовану тонку плівку GO було всебічно охарактеризовано для визначення її структурних та функціональних властивостей. Рентгенівська дифракція (XRD) підтвердила успішне формування GO шляхом спостереження характерних міжшарових відстаней. Аналіз за допомогою інфрачервоної спектроскопії з перетворенням Фур'є (FTIR) виявив функціональні групи, такі як гідроксильні та карбонільні групи, що вказує на окислену структуру GO. Раманівська спектроскопія виділила щільність дефектів з чіткими смугами D та G, тоді як скануюча електронна мікроскопія (СЕМ) дала уявлення про морфологію плівки, показавши добре дисперговані, шаруваті структури. Термічний гравіметричний аналіз (ТГА) продемонстрував термічну стабільність та профіль розкладання оксиду графену (GO), підтверджуючи структурну стійкість синтезованої тонкої плівки. Цей ефективний сольвотермічний метод є перспективним для масштабованого виробництва тонких плівок GO та оцінює екологічну та економічну доцільність цього підходу для забезпечення сталого застосування. |
Перелік посилань English version of article |