Оптимізація виявлення дефектів в атомних матеріалах з використанням графенового шару

Автори Sonal C. Bhangale1, Laxmikant S. Dhamande2, Bhagyashree Ashok Tingare3 , Tarun Dhar Diwan4 , R.A. Kapgate1, P. William5 , Prasad M. Patare2
Афіліація

1Department of Mechatronics Engineering, Sanjivani College of Engineering, Kopargaon, MH, India

2Department of Mechanical Engineering, Sanjivani College of Engineering, Kopargaon, MH, India

3Department of Artificial Intelligence and Data Science, D Y Patil College of Engineering, Akurdi, Pune

4Controller of Examination (COE), Atal Bihari Vajpayee University, Bilaspur, India

5Department of Information Technology, Sanjivani College of Engineering, Kopargaon, MH, India

Е-mail bhangalesonalmk@sanjivani.org.in
Випуск Том 17, Рік 2025, Номер 4
Дати Одержано 03 квітня 2025; у відредагованій формі 18 серпня 2025; опубліковано online 29 серпня 2025
Цитування Sonal C. Bhangale, Laxmikant S. Dhamande, Bhagyashree Ashok Tingare, та ін., Ж. нано- електрон. фіз. 17 № 4, 04028 (2025)
DOI https://doi.org/10.21272/jnep.17(4).04028
PACS Number(s) 68.37.Ps, 68.65.Pq
Ключові слова (3116) .
Анотація Властивості графену та інших атомних матеріалів у поєднанні з методами комп'ютерного зору дозволяють радикально покращити чутливість дефектоскопії. Процес збору даних, отриманий за допомогою цих методів, включав зображення високої роздільної здатності, які застосовувалися для захоплення дрібних деталей поверхні атомних матеріалів. Фотографії піддаються сучасним методам вилучення ознак, щоб виділити та покращити деталі основних структурних компонентів після проходження суворих етапів попередньої обробки даних, таких як зменшення шуму та стандартизація зображення. Унікальна модель Effective Chicken Swarm Guided Recursive NeuroNet (ECS-RNN) спрямована на класифікацію та виявлення дефектів за допомогою застосування інтелектуальних роїв та глибокого навчання. Навчання проводилося на основі показників продуктивності, досягнутих у цьому дослідженні, що вказує на її здатність створювати дуже точні та надійні прогнози з показником F1 97,3 %, точністю 98,5 % та прецизійністю 96,8 %. Ці результати свідчать про прогрес у виявленні дефектів за допомогою запропонованої методики та демонструють застосовність методів машинного навчання у вирішенні дуже складних задач. Модель ECS-RNN демонструє суттєві покращення в обчисленнях нейронних мереж, демонструє свою здатність отримувати відповідні архітектури з мінімальною ерозією, що є перевагою в сценаріях, де отримання важливої інформації має першорядне значення.Kлючові слова: Шар графену, Атомна структура, Ефективна рекурсивна нейромережа, Керована методом Chicken Swarm (ECS-RNN), Медіанний та вінерський фільтри.

Перелік посилань

English version of article