Моделювання руйнування p-n-переходу електромагнітними імпульсами

Автори Д. Сергєєв1,2, К. Шункєєв2, Н. Жантуріна2, А.Л. Соловйов3
Приналежність

1Актюбінський авіаційний інститут імені Т. Бегельдінова, пр. Молдагулова, 39, 030012 Актобе, Казахстан

2Актюбінський регіональний університет імені К. Жубанова, пр. Молдагулова, 34, 030000, Актобе, Казахстан

3Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б. Вєркіна НАН України, 61103 Харків, Україна

Е-mail serdau@mail.kz
Випуск Том 15, Рік 2023, Номер 4
Дати Одержано 12 січня 2023; у відредагованій формі 15 серпня 2023; опубліковано online 30 серпня 2023
Посилання Д. Сергєєв, К. Шункєєв, Н. Жантуріна, А.Л. Соловйов, Ж. нано- електрон. фіз. 15 № 4, 04033 (2023)
DOI https://doi.org/10.21272/jnep.15(4).04033
PACS Number(s) 07.05.Tp, 73.40. – c, 31.15. – p
Ключові слова Комп’ютерне моделювання (3) , p-n-перехід, Електромагнітний імпульс, Тепловий ефект, Молекулярна динаміка (14) .
Анотація

У рамках теорії існування густини та методів молекулярної динаміки у статті розглядається процес руйнування кремнієвого p-n-переходу під дією електромагнітного імпульсу (термічний ефект). Зі збільшенням амплітуди електромагнітного імпульсу виникає нелінійність рухливості квазічастинок і відбуваються процеси ударної іонізації, що приводять до утворення різноманітних дефектів у кристалічній решітці напівпровідника. Показано еволюцію виникнення точкових дефектів у напівпровіднику шляхом термічної деформації, а також подальше збільшення їх концентрації. Показано, що первинне проходження електромагнітного імпульсу породжує дефекти в бездефектному кристалі. Подальший термічний вплив імпульсу приводить до збільшення відхилення атомів та накопичення дефектів і руйнування структури. З підвищенням температури p-n-перехід втрачає свої випрямляючі властивості і спостерігається миттєве збільшення величини зворотного струму за рахунок виникнення струму іонізації, який збігається за напрямком зі струмом насичення. Виявлено, що термічна деформація суттєво спотворює профіль p-n-переходу. Встановлено, що руйнування напівпровідникової структури відбувається в бездефектній частині кристала. У напівпровідниках, легованих Li або Sr, час руйнування p-n-переходу збільшується за рахунок заселення рухливими іонами Li або Sr утвореними вакансіями кремнію під час теплової дії імпульсу. Отримані результати можуть бути корисними при розробці напівпровідникових структур, стійких до зовнішнього впливу електромагнітного імпульсу.

Перелік посилань