Калібрування рентген-дифрактометричних вимірювань для контрольованого за глибиною структурного аналізу двошарових зразків

Автори С.М. Данильченко1 , О.В. Коченко1 , О.М. Калінкевич1 , А.О. Степаненко2 , Є.І. Зінченко1, П.С. Данильченко3, І.Ю. Проценко2
Приналежність

1Інститут прикладної фізики НАНУ, вул. Петропавлівська, 58, 40000, Суми, Україна

2Сумський державний університет, вул. Римського-Корсакова, 2, 40007 Суми, Україна

3Institute of Physics, Faculty of Science, P.J. Šafárik University, 9, Park Angelinum, 04154 Košice, Slovak Republic

Е-mail danilserg50@gmail.com
Випуск Том 13, Рік 2021, Номер 2
Дати Одержано 24 лютого 2021; у відредагованій формі 15 квітня 2021; опубліковано online 20 квітня 2021
Посилання С.М. Данильченко, О.В. Коченко, О.М. Калінкевич, та ін., Ж. нано- електрон. фіз. 13 № 2, 02037 (2021)
DOI https://doi.org/10.21272/jnep.13(2).02037
PACS Number(s) 61.05.cp, 61.72.Dd
Ключові слова Рентгенівська дифракція (21) , Поглинання випромінювання, Товщина шару (2) , що ефективно відбиває, Сталь (6) , Покриття (76) , Мідь (4) , Ковзна геометрія, Поліхроматичне випромінювання.
Анотація

У металевих конструкціях, які отримують при експлуатації значні механічні і радіаційні навантаження, виникають структурні альтерації, що нерівномірно розподілені по глибині матеріалу. У такій же мірі складними об'єктами структурних досліджень є і матеріали з модифікованою поверхнею, включаючи тонкі покриття і мультишари. Розвиток методів селективної за глибиною пошарової рентген-дифракційної діагностики є нетривіальним завданням, спрямованим на контроль ефективної глибини збору структурної інформації. На сьогодні найбільш розроблені підходи включають: (а) асиметричну (ковзну) геометрію та (б) застосування первинного випромінювання з різною проникаючою здатністю. В обох випадках для визначення товщини шару ефективного відбивання необхідно виконати калібрувальні процедури із використанням покриттів або двошарових систем відомої товщини. У даній роботі вивчені можливості рентгенівської дифракції для аналізу зразків сталі та заліза з тонким (мікронним) мідним покриттям. За ослабленням інтенсивності ліній підкладки заліза оцінена товщина мідного покриття. Із застосуванням несиметричної (скісної) зйомки встановлено умови зникнення ліній від підкладки, що дозволило з прийнятною точністю оцінювати товщину шару сталі, який бере участь в утворенні дифракційної картини. Апробовано метод диференціальної за глибиною оцінки структурних характеристик «інтерфейсної» і умовно «об'ємної» областей підкладки α-Fe шляхом застосування поліхроматичного кобальтового випромінювання. Обговорено обмеження апробованого підходу і можливості його застосування до більш широкого спектру сталей. Розглянуті особливості рентген-дифракційних досліджень модельних систем типу «сталь-покриття» або «сталь-модифікована поверхня» важливі при вивченні поверхневих радіаційно-стимульованих структурних альтерацій в сталях енергетичного машинобудування.

Перелік посилань