Автори | B. Zaidi1, C. Shekhar2 , K. Kamli3, Z. Hadef3, S. Belghit1 , M.S. Ullah4 |
Афіліація |
1 Department of Physics, Faculty of Material Sciences, University of Batna 1, Batna, Algeria 2 Department of Applied Physics, Amity University Gurgaon, 122413 Haryana, India 3 Department of Physics, Faculty of Sciences, Université 20 août 1955, BP 26, 21000 Skikda, Algeria 4 Department of Electrical and Computer Engineering, Florida Polytechnic University, Lakeland, USA |
Е-mail | zbeddiaf@gmail.com |
Випуск | Том 12, Рік 2020, Номер 1 |
Дати | Одержано 17 вересня 2019; у відредагованій формі 15 лютого 2020; опубліковано online 25 лютого 2020 |
Цитування | B. Zaidi, C. Shekhar, K. Kamli, et al., J. Nano- Electron. Phys. 12 No 1, 01024 (2020) |
DOI | https://doi.org/10.21272/jnep.12(1).01024 |
PACS Number(s) | 84.60.Jt, 88.40.jm |
Ключові слова | In2S3, Сонячні елементи (17) , CZTS (14) , SCAPS-1D (22) . |
Анотація |
У роботі представлено чисельне моделювання сонячних елементів на основі CZTS з використанням одновимірної програми моделювання сонячних елементів, яка називається симулятором ємності сонячного елементу (SCAPS). Було вивчено вплив товщини буферного шару In2S3 та густини природних дефектів на продуктивність та характеристики J-V сонячних елементів на основі CZTS. Результати моделювання показують, що оптимальна товщина буферного шару In2S3 становить 50 нм. Було виявлено, що густина дефектів ідеальна від 1015 до 1017 см – 3. Оптимальні фотоелектричні параметри були досягнуті з ефективністю 20,95 % при JSC ( 26,85 мА/см2 та VOC ( 0,78 В. |
Перелік посилань |