Комп'ютерне моделювання системи екстракції джерела негативних іонів водню за допомогою пакета IBSimu
| Автори | В.А. Батурін , С.О. Єрьомін |
| Афіліація |
Інститут прикладної фізики НАН України, вул. Петропавлівська, 58, 40000 Суми, Україна |
| Е-mail | baturin49@gmail.com |
| Випуск | Том 10, Рік 2018, Номер 4 |
| Дати | Одержано 02.04.2018; опубліковано online 25.08.2018 |
| Цитування | В.А. Батурін, С.О. Єрьомін, Ж. нано- електрон. фіз. 10 № 4, 04021 (2018) |
| DOI | http://dx.doi.org/10.21272/jnep.10(4).04021 |
| PACS Number(s) | 41.75.Cn, 41.85.Ar, 52.40.Kh |
| Ключові слова | Джерело іонів (7) , Негативні іони водню, Плазмова границя, Еміттанс (2) . |
| Анотація |
Запропоновано конструкцію та представлені результати чисельного моделювання системи екстракції для джерела негативних іонів водню, що розробляється в ІПФ НАН України. Моделювання проведене за допомогою розробленої комп'ютерної програми, що використовує можливості вільно розповсюджуваного пакета IBSimu. Детально описана методика моделювання даної системи. Проведено аналіз розподілу потужності, що виділяється у поглиначі електронного пучка. Досліджено залежність нормалізованого еміттанса пучка іонів H ˉ на виході системи екстракції від струму іонів. Наведено пояснення отриманих результатів із точки зору кривизни границі плазми та запропоновано спосіб мінімізації еміттанса у широкому діапазоні іонного струму. |
|
Перелік посилань English version of article |
Інші статті цього номера
1) Impact of Sputtering Pressure on Structural, Optical, Electrical and Morphological Properties of Titanium Doped Zinc Oxide Thin films Using Metallic Target [04001-1-04001-5]2) Топографія та густина поверхневих електронних станів ювенільних та дефектних нано-структурованих поверхонь сколювання (100) шаруватих кристалів In4Se3 [04002-1-04002-12]
3) New Nonrelativistic Three-Dimensional Spectroscopic Studies of NMGECSC Potential in Presence of External Electric [04003-1-04003-8]
4) Parametric Study of Stacked Microstrip Patch Antenna with Dissimilar Substrates [04004-1-04004-4]
5) Kinetics of Blue Emission during Ultraviolet Insolation on Germanosilicate Optical Fiber [04005-1-04005-5]
6) Electrons Extraction from MWCNT/PEO Composites [04006-1-04006-5]
7) Optimizing Combination of Parameters for Pull-off Adhesion Testing through Design of Experiment Study [04007-1-04007-7]
8) Термодинамічний аналіз процесу кристалізації сплавів системи Ni-Zr [04008-1-04008-4]
9) Фотолюмінесцентні властивості наногетерогенних плівкових структур НК CdTe/ТГК/сополімер вінілацетат-акрилату [04009-1-04009-4]
10) Механізм виникнення коливань напруги в кремнієвій структурі при протіканні екстремальних струмів [04010-1-04010-4]
11) The Theoretical Study of Electron Dispersion of Some Liquid Metals Using Transition Metal Model Potential (TMMP) [04011-1-04011-4]
12) An Analytical Modeling of Drain Current for Single Material Surrounded Gate Nanoscale SOI MOSFET [04012-1-04012-5]
13) Effect of Intrinsic Layer Thickness on PIN Structure for Tandem Solar Cell Based on Indium Gallium Nitride Using AMPS -1D [04013-1-04013-4]
14) Gunn Diodes Based on Graded InGaP-InPAs [04014-1-04014-6]
15) Особливості електропровідності та магнітоопору ниткоподібних кристалів кремнію з концентрацією домішки в області переходу метал-діелектрик за низьких температур [04015-1-04015-7]
16) Магнiторезистивнi та магнiтооптичнi властивостi двокомпонентних плiвкових сплавів на основі заліза [04016-1-04016-4]
17) A New Electro-Thermal Modeling of Low Voltage Power MOSFET with Junction Tempera-ture Dependent Foster (RC) Thermal Network [04017-1-04017-5]
18) Дислокаційний гістерезис у змішаному стані надпровідника ІІ роду [04018-1-04018-6]
19) p-i-n фотодіод на основі кремнію з малим часом зростання [04019-1-04019-5]
20) Удосконалення електрохімічних суперконденсаторів шляхом використання наноструктурованих напівпровідників [04020-1-04020-6]
21) Фотоіндуковані просторово-часові коливання і структурна самоорганізація в полімер-іммобілізованих дисперсних напівпровідниках [04022-1-04022-8]
22) Дослідження фотоелектричних перетворювачів на основі різних напівпровідникових матеріалів [04023-1-04023-6]
23) Електропровідність та процеси діелектричної релаксації керамічної системиY2O3-ZrO2-SrTiO3-BiScO3 [04024-1-04024-4]
24) Підвищення ефективності роботи лінійного п'єзоелектричного мотора [04025-1-04025-5]
25) Квантовое столкновение двух вертикальных блоховских линий в доменной границе одноосной ферромагнитной пленки [04026-1-04026-4]
26) A Graphical Method to Study Electrostatic Potentials of 25 nm Channel Length DG SOI MOSFETs [04027-1-04027-4]
27) Збільшення вірогідності безвідмовної роботи ІЧ-приладів самонаведення та спостереження шляхом електронно-променевої обробки оптичних обтічників [04028-1-04028-7]
28) Магнітні дослідження наночастинок шаруватого магніторозчиненого напівпровідника [04029-1-04029-5]
29) Першопринципний розрахунок домішково-дислокаційної взаємодії в кремнії [04030-1-04030-5]
30) Вплив умов термообробки на магніторезистивні властивості тришарових структур Fe0,2Co0,8/Cu/Fe0,2Co0,8 [04031-1-04031-5]
31) Особливості структури високоентропійного сплаву FeCoNiCrMn [04032-1-04032-10]
32) Пористий вуглець на основі антрациту як електродний матеріал літієвих джерел струму [04033-1-04033-5]
33) Ab initio Study of the Effect of H2O Molecules Adsorption on the Semiconducting Graphene Nanoribbon [04034-1-04034-3]
