A Graphical Method to Study Electrostatic Potentials of 25 nm Channel Length DG SOI MOSFETs

Автори M. Djerioui , M. Hebali , D. Chalabi , A. Saidane
Приналежність

Labo.CaSiCCE ENP d’Oran, B.P 1523 Oran El M’Naouar 31000, Algeria

Е-mail
Випуск Том 10, Рік 2018, Номер 4
Дати Одержано 10.05.2018; у відредагованій формі 10.08.2018; опубліковано online 25.08.2018
Посилання M. Djerioui, M. Hebali, D. Chalabi, A. Saidane, J. Nano- Electron. Phys. 10 № 4, 04027 (2018)
DOI https://doi.org/10.21272/jnep.10(4).04027
PACS Number(s) 85.30.De
Ключові слова Symmetrical DG SOI MOSFET, Poisson’s equation (4) , Electrostatic potential, Numerical method.
Анотація

To determine electrostatic potentials in silicon channel of undoped DG SOI MOSFET devices, a graphical approach is proposed. The method keeps close to experimental reality by taking into account flat band potential at reduced channel lengths up to 25 nm. This graphical method solves a transcendental equation of Poisson’s equation to obtain electrostatic potentials at center and surface of device as a function gate and drain bias voltages.

Перелік посилань