Визначення товщини активної області Si-PIn детектора за залежністю інтенсивності аналітичних ліній однокомпонентних еталонів від довжини хвилі
| Автори | А.О. Мамалуй Л.П. Фоміна, А.І. Михайлов |
| Афіліація | Національний технічний університет «Харьківський політехнічний інститут» вул. Фрунзе, 21, 61002, Харків, Україна |
| Е-mail | m_if@ukr.net |
| Випуск | Том 2, Рік 2010, Номер 4 |
| Дати | Одержано 23.12.2010, у відредагованій формі – 15.01.2011 |
| Цитування | А.О. Мамалуй Л.П. Фоміна, А.І. Михайлов, Ж. нано- електрон. фіз. 2 №4, 115 (2010) |
| DOI | |
| PACS Number(s) | 07.85.Fv |
| Ключові слова | Рентгенівське флуоресцентне випромінювання, Аналітичні лінії, Детектор (20) , Активна зона (2) , Вторинний випромінювач. |
| Анотація |
Пропонується проста процедура визначення товщини активної області детектора, при якої як відомі потоки використовуються потоки аналітичних ліній флуоресцентного випромінювання однокомпонентних зразків при їхньому збудженні монохроматичним випромінюванням вторичного випромінювача. Порівняння експериментальної і розрахункової кривих залежності інтенсивності аналітичних ліній від довжини хвилі дозволяє визначити товщину активної області d = 170 мкм з точністю ± 10 мкм. |
|
Перелік посилань |
Інші статті цього номера
1) Оцінка розміру та концентрації наночастинок срібла у водному зависі зі спектрів екстинкції [005-011]2) Стохастична динаміка намагніченості наночастинки у циркулярно-поляризованому магнітному полі [012-021]
3) Самосинхронізація у системі нелінійних осциляторів ван Дер Поля [022-030]
4) Дифузійний ріст і морфологічна стійкість двовимірного виділення нової фази, розташованого на міжзеренній границі [031-046]
5) Експериментальна установка та методика моделювання просторових хвиль у багатозв'язних квазіоптичних системах з періодичними неоднорідностями [047-058]
6) Моделювання на атомарному рівні еволюції вакансійних пор в опромінених матеріалах [059-074]
7) Вплив концентрації носіїв заряду фосфіда індію на формування поруватого шару [075-081]
8) Структурно-фазовий стан та оптичнi властивостi покриттiв з ZnO [082-089]
9) Оцінка ширини пучка у магнітному мас-спектрометрі [090-095]
10) Магніторезистивні властивості плівок Fe і мультишарів на їх основі [096-114]
