Оцінка ширини пучка у магнітному мас-спектрометрі

Автори	О.М. Перегудов, Є.А. Міронець
Приналежність	Інститут прикладної фізики НАН України, вул. Петропавлівська, 58, 40000, Суми, Україна
Е-mail	o.peregudov@gmail.com
Випуск	Том 2, Рік 2010, Номер 4
Дати	Одержано 10.11.2010, у відредагованій формі – 12.01.2011
Посилання	О.М. Перегудов, Є.А. Міронець, Ж. нано- електрон. фіз. 2 №4, 90 (2010)
DOI
PACS Number(s)	07.05.Kf, 07.05.Tp, 07.75. + h, 82.80.Ms
Ключові слова	Магнітний мас-спектрометр, Модель форми піка, Ширина профіля пучка, Кількісний аналіз, Опис піків.
Анотація	Запропоновано метод оцінки ширини пучка для секторних магнітних мас-спектрометрів. Метод полягає у відновленні вихідної функції розподілення густини іонів у поперечному розрізі пучка перед приймаючою щілиною колектора, і може бути застосований для оцінки якості фокусування іонно-оптичної схеми мас-спектрометра.
	Перелік посилань Повний текст Переклад англійською

Інші статті цього номера

1) Оцінка розміру та концентрації наночастинок срібла у водному зависі зі спектрів екстинкції [005-011]
2) Стохастична динаміка намагніченості наночастинки у циркулярно-поляризованому магнітному полі [012-021]
3) Самосинхронізація у системі нелінійних осциляторів ван Дер Поля [022-030]
4) Дифузійний ріст і морфологічна стійкість двовимірного виділення нової фази, розташованого на міжзеренній границі [031-046]
5) Експериментальна установка та методика моделювання просторових хвиль у багатозв'язних квазіоптичних системах з періодичними неоднорідностями [047-058]
6) Моделювання на атомарному рівні еволюції вакансійних пор в опромінених матеріалах [059-074]
7) Вплив концентрації носіїв заряду фосфіда індію на формування поруватого шару [075-081]
8) Структурно-фазовий стан та оптичнi властивостi покриттiв з ZnO [082-089]
9) Магніторезистивні властивості плівок Fe і мультишарів на їх основі [096-114]
10) Визначення товщини активної області Si-PIn детектора за залежністю інтенсивності аналітичних ліній однокомпонентних еталонів від довжини хвилі [115-118]