| Автори | S.A. Kumar1, J. Prabhu G2, V. Sandeep3, J. Soundararajan4 |
| Афіліація |
1Department of ECE, Karpagam Academy of Higher Education, India 2Department of ECE, AAA College of Engineering and Technology, India 3Department of ECE, Mangalore Institute of Technology & Engineering, India 4Department of ECE, Sri Manakula Vinayagar Engineering College, India |
| Е-mail | 6691ashok@gmail.com |
| Випуск | Том 18, Рік 2026, Номер 2 |
| Дати | Одержано 05 січня 2026; у відредагованій формі 24 квітня 2026; опубліковано online 29 квітня 2026 |
| Цитування | S.A. Kumar, J. Prabhu G, V. Sandeep, J. Soundararajan, Ж. нано- електрон. фіз. 18 № 2, 02031 (2026) |
| DOI | https://doi.org/10.21272/jnep.18(2).02031 |
| PACS Number(s) | 85.30.Tv |
| Ключові слова | MOSFET (32) , Плазма (22) , SRAM (7) , TCAD (18) . |
| Анотація |
У цій роботі використовується метод зарядової плазми (ЗП) для індукції носіїв заряду в нелегованій області каналу тригейтного MOSFET-транзистора типу «кремній на ізоляторі» (КНІ), що усуває необхідність традиційного легування та зменшує мінливість у нанорозмірах. Металевий шар з відповідно розробленою роботою виходу (РВ) вбудований під канал для електростатичного індукування носіїв заряду у власній області кремнію, що забезпечує ефективне формування каналу. Характеристики пристрою аналізуються з точки зору розподілу носіїв, профілю поверхневого потенціалу, вольт-амперних (ВАХ) характеристик та крутизни, а також оцінки на рівні схеми за допомогою характеристик передачі напруги (ХПН) конфігурацій інвертора та оцінки стабільності 6T SRAM-комірок для довжини каналу 10 нм. Моделювання проводиться за допомогою Sentaurus TCAD з використанням передових фізичних моделей, включаючи модель рухливості Ломбарді для врахування поверхневого розсіювання, моделі рекомбінації Шоклі-Ріда-Холла (ШРХ) та Оже для рекомбінації носіїв, а також модель градієнта густини для врахування ефектів квантового обмеження. Включення діелектрика з високим k значно зменшує струм витоку та покращує електростатичний контроль. Спостерігається, що зниження бар'єру, індукованого стоком (DIBL), може бути ефективно придушене та налаштоване шляхом оптимізації роботи виходу металевого шару під каналом. В результаті реалізації ЗП, запропонований пристрій демонструє 16 % покращення струму стоку порівняно зі звичайним КНІ MOSFET. Крім того, реалізовані схеми 6T SRAM демонструють 28 % покращення запасу статичного шуму утримання, що свідчить про покращену стабільність та надійність, тим самим роблячи запропонований КНІ тригейтовий MOSFET на основі ЗП сильним кандидатом для майбутніх низькоенергетичних та високопродуктивних застосувань. |
|
Перелік посилань |