| Автори | І.Б. Оленич1 , Ю.Ю. Горбенко2 , М.Р. Павлик1, Б.С. Соколовський1, О.С. Дзендзелюк1 |
| Афіліація |
1Факультет електроніки та комп’ютерних технологій, Львівський національний університет імені Івана Франка, 79005 Львів, Україна 2Хімічний факультет, Львівський національний університет імені Івана Франка, 79005 Львів, Україна |
| Е-mail | igor.olenych@lnu.edu.ua |
| Випуск | Том 18, Рік 2026, Номер 2 |
| Дати | Одержано 02 вересня 2025; у відредагованій формі 17 квітня 2026; опубліковано online 29 квітня 2026 |
| Цитування | І.Б. Оленич, Ю.Ю. Горбенко, М.Р. Павлик, та ін., Ж. нано- електрон. фіз. 18 № 2, 02026 (2026) |
| DOI | https://doi.org/10.21272/jnep.18(2).02026 |
| PACS Number(s) | 73.63. – b, 78.70. – g |
| Ключові слова | Відновлений оксид графену (3) , Польовий транзистор (16) , Поруватий кремній (22) , Оксид цинку (30) , Сенсор іонізуючого випромінювання. |
| Анотація |
Для виявлення іонізуючого випромінювання створено графеновий польовий транзистор на основі сендвіч-структури відновлений оксид графену – оксид цинку – поруватий кремній – кремнієва підкладка. Гібридну структуру було отримано в результаті послідовних технологічних процесів фотоелектрохімічного формування наноструктурованого поруватого кремнію, електрохімічного осадження оксиду цинку, нанесення плівкоутворювальної суспензії наночастинок відновленого оксиду графену та подальшого висушування за кімнатної температури. Проаналізовано залежності струму стоку від напруги стік-витік та напруги затвора отриманого польового транзистора. Виявлено збільшення опору плівки відновленого оксиду графену поблизу точки нейтральності заряду, спричинене опроміненням ізотопом 226Ra. Крім того, спостерігалося зміщення точки нейтральності заряду в сторону нижчої напруги на затворі. Встановлено, що іонізуюче випромінювання здійснює більший вплив на електронну складову провідності плівки відновленого оксиду графену, ніж на діркову. Встановлено підвищення чутливості створеного детектора іонізуючого випромінювання завдяки використанню додаткових поглинаючих шарів оксиду цинку та поруватого кремнію. На основі аналізу частотних залежностей внутрішнього опору та електричної ємності, а також вольт-фарадних характеристик сандвіч-структури обговорюються механізми впливу (- та (-частинок і (-квантів на електричні характеристики запропонованого сенсора радіації. Отримані результати мають високий потенціал для створення нового типу малогабаритних дозиметричних приладів на основі графенових польових транзисторів з використанням простих та недорогих методів і матеріалів. |
|
Перелік посилань |