Синтез і характеристика кількашарового відновленого та модифікованого методом Хаммера нанолиста оксиду графену

Автори Jagat Pal Singh1 , G.C. Joshi2
Приналежність

1Department of Physics, G.B. Pant University of Agri. & Tech., 263145 Pantnagar, India

2RITL, G.B. Pant University of Agri. & Tech., 263145 Pantnagar, India

Е-mail agatpalsingh7@gmail.com
Випуск Том 15, Рік 2023, Номер 2
Дати Одержано 07 грудня 2022; у відредагованій формі 14 квітня 2023; опубліковано online 27 квітня 2023
Посилання Jagat Pal Singh, G.C. Joshi, Ж. нано- електрон. фіз. 15 № 2, 02003 (2023)
DOI https://doi.org/10.21272/jnep.15(2).02003
PACS Number(s) 61.05.С –, 81.05.ue
Ключові слова Рентгенівська дифракція (21) , Метод Хаммера (2) , Заборонена зона (19) .
Анотація

Дослідження показують, що синтезований за допомогою модифікованого методу Хаммера, а потім за допомогою термічної обробки оксид графену (GO) дав відновлений оксид графену (rGO). Фазову чистоту та кристалічну структуру синтезованого rGO визначали за допомогою методу рентгенівської дифракції (XRD), який підтвердив утворення відновленого оксиду графену. Крім того, рівняння Шеррера було використано для розрахунку середнього розміру кристалітів. Інфрачервона спектроскопія з перетворенням Фур’є (FTIR) була використана для ідентифікації молекулярних коливань і функціональних груп, що підтверджує наявність зв’язків C=C і C-O у зразку. Морфологію поверхні отриманих зразків досліджували за допомогою скануючого електронного мікроскопа (FESEM). Результати досліджень вказують на те, що поверхня листа rGO є гладкою. Оптичні характеристики вимірювались за допомогою УФ-видимого спектрометра. Ширина забороненої зони обчислюється за допомогою tauc plot аналізу. Ширина забороненої зони становила 1,92 еВ. У цьому дослідженні було зроблено спробу виготовити відновлений нанолист оксиду графену модифікованим методом Хаммера.

Перелік посилань