Автори | M. Medjaldi1, N. Dadda2, A.R. Khantoul3, I. Ameur4, A. Kassaa3, A. Boumaiza4, B. Boudine4, M. Sebais4 |
Афіліація |
1Laboratory of SATIT, University Abbes Laghrour Khenchela, Algeria 2Laboratoire de Synthèse et Biocatalyse Organique (LSBO), Département de Chimie, Université Badji Mokhtar Annaba, B.P. 12, 23000 Annaba, Algeria 3Research Center in Industrial Technologies CRTI, P. O. Box 64, Cheraga 16014 Algiers, Algeria 4Crystallography Laboratory, Physics Department, Faculty of Exact Sciences, Mentouri Brothers- Constantine 1 University, Route Ain El Bey, 25000 Constantine, Algeria |
Е-mail | malika.medjaldi@univ-khenchela.dz |
Випуск | Том 14, Рік 2022, Номер 6 |
Дати | Одержано 01 листопада 2022; у відредагованій формі 22 грудня 2022; опубліковано online 27 грудня 2022 |
Цитування | M. Medjaldi, N. Dadda, A.R. Khantoul, та ін., Ж. нано- електрон. фіз. 14 № 6, 06023 (2022) |
DOI | https://doi.org/10.21272/jnep.14(6).06023 |
PACS Number(s) | 81.20.Fw, 68.55.ag, 68.55.jd, 68.55.J_, 78.68._m |
Ключові слова | Тонкі плівки ZnO (2) , леговані Co; Покриття зануренням; Товщина, Фотолюмінесценція (29) , XRD (97) , Електропровідність (33) . |
Анотація |
Тонкі плівки ZnO, леговані 1 мас. % Co (CZO) різної товщини (3, 5 і 7 шарів, що відповідають товщині 403, 545 і 725 нм) наносяться золь-гель методом на скляні підкладки технікою нанесення покриттів зануренням. Дегідрат ацетату цинку, ацетат кобальту, 2-метоксиетанол і етаноламін використовуються відповідно як первинні матеріали, розчинник і стабілізатор. Термічно відпалені плівки охарактеризовано для вивчення структури, морфології поверхні, електричних та оптичних властивостей. Дифракція рентгенівських променів (XRD) показує, що ці плівки мають полікристалічну гексагональну структуру (структура вюрциту з просторовою групою P63mc), володіють напругою стиску та мають переважну орієнтацію вздовж площини (002). Відзначимо, що при збільшенні товщини розмір частинок зменшується. Морфологію поверхні отриманих тонких плівок CZO досліджують за допомогою атомно-силової мікроскопії (АFМ). Вона виявляє появу однорідної стовпчастої структури та показує, що розмір частинок і середньоквадратична шорсткість CZO збільшуються зі збільшенням товщини. УФ-видима спектроскопія показує (у видимій області) пропускання від 75 до 86 % для всіх плівок, сильне поглинання (в УФ-області) і зменшення оптичної забороненої зони. Крім того, товщина впливає на ближній край смуги (NBE) і видиме випромінювання, що виявляється фотолюмінесценцією. Електропровідність зразка з довжиною хвилі 725 нм становить 4,43 (Омсм) – 1. |
Перелік посилань |