Автори | K. Mahi1, 2 , H. Aït-Kaci2 |
Афіліація |
1 Department of Physics, Faculty of Sciences of the Matter, University of Tiaret, BP P 78 Zaaroura, Tiaret, Algeria 2 Laboratory of Plasma Physics, Conductor Materials and their Applications, Faculty of Physics, Oran University of Sciences and Technology Mohamed Boudiaf USTO-MB, BP1505 Oran, Algeria |
Е-mail | khaled.mahi@univ-tiaret.dz, mahikhalidou@yahoo.fr |
Випуск | Том 13, Рік 2021, Номер 5 |
Дати | Одержано 21 червня 2021; у відредагованій формі 20 жовтня 2021; опубліковано online 25 жовтня 2021 |
Цитування | K. Mahi, H. Aït-Kaci, Ж. нано- електрон. фіз. 13 № 5, 05019 (2021) |
DOI | https://doi.org/10.21272/jnep.13(5).05019 |
PACS Number(s) | 84.60.Jt, 72.15.Qm |
Ключові слова | Модель сонячного елементу, Транспортні механізми, Вилучення параметрів (3) , Фото-струм, Коефіцієнт ідеальності (7) , Шунтова провідність. |
Анотація |
Для поліпшення функцій і продуктивності фотоелектричних та термофотоелектричних систем та елементів важливо розуміти фізичні властивості їх компонентів та транспортні процеси, що відбуваються в їх структурах. Для цього необхідний правильний аналіз залежності густини струму від напруги в елементі. Елементи часто демонструють неідеальну поведінку через паразитні ефекти, пов'язані з так званими послідовним та шунтуючим опорами. У цьому випадку вилучення таких параметрів елементу, як зворотний струм насичення та коефіцієнт ідеальності, які можуть дати цінну інформацію про механізми перенесення заряду, відповідальні за струми в елементі, стає досить складним. У роботі, щоб уникнути математичної та числової складності при аналізі залежності густини струму від напруги (J-V), характерної для пристрою, ми пропонуємо простий експериментальний метод використання таких характеристик, кількісну оцінку струмів витоку, що характеризують пристрій, та виправлення експериментальних даних залежності J-V. Результати, отримані нашим методом, значною мірою відповідають теоретичним залежностям J-V. |
Перелік посилань |