Аналіз профілю піків рентгенівської дифракційної картини наноструктури оксиду цинку

Автори Sajal Sahu1, Pijus Kanti Samanta2
Приналежність

1Department of Physics, Ramchandrapur Raisuddin High School, Purba Medinipur, West Bengal, India

2Department of Physics (UG & PG), Prabhat Kumar College, Contai, Purba Medinipur, West Bengal, India

Е-mail pijush.samanta@gmail.com
Випуск Том 13, Рік 2021, Номер 5
Дати Одержано 16 квітня 2021; у відредагованій формі 20 жовтня 2021; опубліковано online 25 жовтня 2021
Посилання Sajal Sahu, Pijus Kanti Samanta, Ж. нано- електрон. фіз. 13 № 5, 05001 (2021)
DOI https://doi.org/10.21272/jnep.13(5).05001
PACS Number(s) 61.46. + w, 61.46.Df, 61.82.Rx
Ключові слова Кристалічний (11) , Зерно (11) , Деформація (35) , Анізотропія (19) .
Анотація

Рентгенівська дифракція є важливим інструментом для аналізу кристалічної структури будь-якого кристалічного матеріалу. За допомогою відповідного аналізу піків рентгенівської дифракції можна визначити розмір кристалітів та мікронапруження. Також можуть бути визначені інші параметри, такі як анізотропія росту, кристалічність, густина дислокацій та питома площа поверхні. У роботі вивчалася рентгенівська дифракційна картина нанострижнів ZnO. Розмір кристалітів і деформацію розраховували для всіх піків дифракційної картини. Середнє значення розміру кристалітів становило 47,7 нм. Для різних кристалографічних площин деформація була різною. Використовуючи стандартну формулу, були розраховані параметри решітки структури вюрциту, які виявились рівними a  b  3,2467 Å та c  5,2004 Å. Підготовлений зразок має дуже велику середню питому площу поверхні 2,26×105 см2г – 1. Інтенсивність різних дифракційних піків різна, що свідчить про анізотропний ріст кристала.

Перелік посилань