Автори | Ю.В. Тур1 , І.С. Вірт1 , 2 |
Афіліація |
1Дрогобицький державний педагогічний університет імені Івана Франка, вул. Стрийська, 3, 82100 Дрогобич, Україна 2Жешувський університет, вул. С. Пігонія, 1, 35310 Жешув, Польща |
Е-mail | |
Випуск | Том 10, Рік 2018, Номер 6 |
Дати | Одержано 31.09.2018, у відредагованій формі – 07.12.2018, опубліковано online 18.12.2018 |
Цитування | Ю.В. Тур, І.С. Вірт, Ж. нано- електрон. фіз. 10 № 6, 06037 (2018) |
DOI | https://doi.org/10.21272/jnep.10(6).06037 |
PACS Number(s) | 73.50.Lw, 84.60.Pb |
Ключові слова | Атомно-силова мікроскопія (16) , Мікротвердість (29) , Наноідентування, Тонкі плівки (71) . |
Анотація |
Досліджено нанотвердість і модуль пружності тонких плівок PbTe та PbSe на скляних підкладках. За допомогою застосування методу Олівера-Фарра визначено твердість тонких плівок PbTe та PbSe при різних співвідношеннях твердості плівки і підкладки. Встановлено, що коректне вимірювання модуля пружності тонких плівок методом Олівера-Фарра можливо, лише коли плівка і підкладка мають співмірні пружні властивості. Для визначення модуля пружності плівок за допомогою параметра, необхідно, щоб плівка і підкладка мали близькі значення як твердості, так і модуля пружності. |
Перелік посилань |