Автори | М.Ю. Бобик, В.П. Іваницький , В.С. Ковтуненко , О.Я. Сватюк |
Афіліація | Державний вищий навчальний заклад Ужгородський національний університет, вул. Університетська, 14, 88000, Ужгород, Україна |
Е-mail | al-sv2006@newmail.ru |
Випуск | Том 4, Рік 2012, Номер 2 |
Дати | Одержано 30.04.2012, опубліковано online 04.06.2012 |
Цитування | М.Ю. Бобик, В.П. Іваницький, В.С. Ковтуненко, О.Я. Сватюк, Ж. нано- електрон. фіз. 4 № 2, 02041 (2012) |
DOI | |
PACS Number(s) | 7.78. + s; 07.79. – v; 61.05.J –; 68.37.Lp; 87.64.Ee |
Ключові слова | наноматеріали (14) , аморфний (20) , контраст (5) , розсіювання (34) , електрон (208) , атом (58) . |
Анотація | Запропоновано фізично строге визначення контрасту електронномікроскопічних зображень аморфних наноматеріалів. Показана необхідність розділення вкладу в контраст різних видів розсіювання електронів атомами зразка: пружного когерентного, пружного некогерентного та непружного. Виведені прості аналітичні співвідношення для знаходження вкладу в електронномікроскопічний контраст трьох різних видів розсіювання. |
Перелік цитувань |