Покращення впровадження та надійності детекторів на основі наноматеріалів за допомогою методу глибокого навчання

Автори M.A. Jawale1, P. William1 , N.K. Darwante2, V. Verma3, S.S. Ingle4 , D. Roy5
Афіліація

1Department of Information Technology, Sanjivani College Engineering, Kopargaon, SPPU, Pune, India

2Department of Electronics & Computer Engineering, Sanjivani College of Engineering, Kopargaon, SPPU,Pune, India

3Department of Computer Science and Engineering, Bhilai Institute of Technology, Raipur, Chhattisgarh, India

4Department of Mechanical Engineering, Sanjivani College Engineering, Kopargaon, SPPU, Pune, India

5Hyderabad Institute of Technology and Management, Gowdavelli Village, Medchal, Hyderabad, India

Е-mail william160891@gmail.com
Випуск Том 16, Рік 2024, Номер 5
Дати Одержано 10 червня 2024; у відредагованій формі 17 жовтня 2024; опубліковано online 30 жовтня 2024
Цитування M.A. Jawale, P. William, N.K. Darwante, та ін., Ж. нано- електрон. фіз. 16 № 5, 05002 (2024)
DOI https://doi.org/10.21272/jnep.16(5).05002
PACS Number(s) 07.05.Mh
Ключові слова Глибоке навчання (DL), Наноматеріали (NM), Нанотехнології (7) , Динамічна глибока нейронна мережа на основі точного налаштування генетичного алгоритму (FTGA-DDNN).
Анотація

Підвищення надійності та впровадження мають вирішальне значення в реальних програмах, і властива непередбачуваність нематеріалів ускладнює інтеграцію детекторів наноматеріалів (НМ) у ці середовища. Надійні припущення можуть бути побудовані на основі даних, створених такими датчиками, за допомогою глибокого навчання (DL), що є потужним методом. У цьому дослідженні ми запропонували новий метод під назвою «Динамічна глибока нейронна мережа на основі тонко налаштованого генетичного алгоритму» (FTGA-DDNN), навчання якого є дорогим з обчислювальної точки зору, але він дає найефективніший результат при оцінці в Інтернеті, зберігаючи розумний рівень надійності. . Це може бути корисним у середовищах, що динамічно змінюються, де алгоритму потрібно досліджувати нові можливості, одночасно використовуючи відомі рішення. Завдяки оптимізації DL метою покращення реалізації та надійності детекторів наноматеріалів є підвищення їх адаптивності та ефективності в різноманітних ситуаціях. Ми представляємо порівняльний аналіз результатів, отриманих із запропонованої нами методики, з іншими існуючими методами. Наші висновки вказують на високу продуктивність у середній похибці, середній абсолютній похибці та часу напівлогарифмічного тестування, демонструючи ефективність підходу FTGA-DDNN. Підсумовуючи, це дозволяє нам прогнозувати та прогнозувати функцію фільтра пізніше, підвищуючи точність алгоритмів DL та корисність фільтрів протягом тривалих періодів.

Перелік цитувань