Автори | M. Bendaoued1 , H. Elmajid2, A. Es-saleh3 , S. Lakrit4 , V. Satyanarayana5 , M. Lakshmana Kumar6 |
Афіліація |
1LMEET Laboratory, Hassan I University, Faculty of Sciences and Technology, Settat, Morocco 2Research Team in Smart Communications, E3S, Research Center, EMI, Mohammed V University, Rabat, Morocco 3Mathematics and Information Systems Laboratory, FP of Nador, Mohammed First University, Oujda, Morocco 4Mathematics and Information Systems Laboratory, EST of Nador, Mohammed First University, Oujda, Morocco 5Department of Electronics and Communication Engineering, Aditya University, Aditya Nagar, ADB Rd, Surampalem, Andhra Pradesh-533437, India 6Department of Electronics and Communication Engineering, Koneru Lakshmaiah Education Foundation, Green Fields, 522302 Vaddeswaram, A.P., India |
Е-mail | hassinfo_10@yahoo.fr |
Випуск | Том 17, Рік 2025, Номер 2 |
Дати | Одержано 15 лютого 2025; у відредагованій формі 20 квітня 2025; опубліковано online 28 квітня 2025 |
Цитування | M. Bendaoued, H. Elmajid, A. Es-saleh, та ін., Ж. нано- електрон. фіз. 17 № 2, 02017 (2025) |
DOI | https://doi.org/10.21272/jnep.17(2).02017 |
PACS Number(s) | 07.05.Tp |
Ключові слова | Діелектричні матеріали (2) , Прямокутний хвилевід, Комплексна відносна діелектрична проникність, X-діапазон. |
Анотація |
Представлено методологію дослідження характеристик діелектричних матеріалів, які часто використовуються в будівництві. Цей підхід передбачає оцінку властивостей поширення електромагнітних хвиль у хвилеводі, що містить досліджуваний матеріал, шляхом аналізу розмірів хвилеводу, виміряних параметрів та виконання процедур калібрування. Метод використовує метод пропускання/відбиття (T/R) для визначення складної відносної діелектричної проникності різних матеріалів. Спочатку використовується стандартний векторний аналізатор мережі для оцінки Sij параметрів у прямокутному хвилеводі, що містить досліджуваний матеріал, у частотному спектрі X-діапазону (8,5–12,5 ГГц). Згодом застосовується процес числової оптимізації для визначення комплексної діелектричної проникності за допомогою скрипта MATLAB, розробленого для визначення комплексної відносної діелектричної проникності діелектричного матеріалу, узгоджуючи виміряні та розраховані значення S-параметрів. Зокрема, використовуються два показники пропускання та відбиття: попереднє вимірювання виконується з використанням порожнього тримача зразка або діелектричного еталону. І навпаки, під час другого вимірювання тримач зразка заповнюється речовиною для характеристики. Легітимність цього підходу підтверджується експериментальними результатами, отриманими з різних діелектричних будівельних матеріалів, включаючи тефлон, ніздрюватий бетон та деревину, у порівнянні з альтернативними способами, що підтверджує ефективність запропонованої стратегії. |
Перелік посилань |