Дослідження ефекту заміни хрому церієм у феритах магнію на діелектричні та структурні властивості

Автори Hamed A. Younis1, Wissam A. Hussian1, Omar A. Ahmed1, Mustafa H. Omar2
Приналежність

1The General Directorate for Education in Diyala, Diyala, Iraq

2Department of Materials Engineering, College of Engineering, University of Diyala, Diyala, Iraq

Е-mail amedabd925@gmail.com
Випуск Том 15, Рік 2023, Номер 5
Дати Одержано 15 липня 2023; у відредагованій формі 18 жовтня 2023; опубліковано online 30 жовтня 2023
Посилання Hamed A. Younis, Wissam A. Hussian, Omar A. Ahmed, Mustafa H. Omar, Ж. нано- електрон. фіз. 15 № 5, 05035 (2023)
DOI https://doi.org/10.21272/jnep.15(5).05018
PACS Number(s) 77.22. – d, 81.20.Fw
Ключові слова MgFe2O4, Діелектричні властивості (5) , Золь-гель (26) , TEM (76) , FTIR (29) .
Анотація

Досліджено структурні та діелектричні властивості церій-хромового заміщення у фериті магнію (x = 0, 0.1, 0.3, 0.5), отриманому самозайманням лимонної кислоти та прожареному при температурі (1000 °С). Характеристику складу зразків проводили за допомогою XRD, FTIR, TEM, а діелектричні властивості вимірювали за допомогою LCR. Рентгенівська дифракція виявила склад кубічної шпінелі. Розмір кристала магнієвого фериту був у межах (18-31 нм) і постійної решітки (8,327-8,393 Å). Було помічено, що спектри FTIR сполуки MgCr0.5 – xCexFe1.5O4 залишаються у шпінельній фазі зі зміною концентрації Ce3+. Електронно-мікроскопічні вимірювання показали, що існують різні вершини решітки з потенційним d-розташуванням для Cr2O3, CeO2 та (-Fe2O3 фази. Значення d-розташування найбільш помітного кільця в кристалічних площинах (311) MgFe2O4 було близьким до його значення в рентгенівській дифракції. Було встановлено, що діелектрична проникність і коефіцієнт діелектричних втрат зменшуються зі збільшенням частоти прикладеного електричного поля і змінної провідності.

Перелік посилань