Визначення критичних значень параметрів електронно-променевої мікрообробки оптичних пластин двоякої кривизни

Автори І.В. Яценко1 , В.С. Антонюк2 , В.П. Маслов3 , В.А. Ващенко1 , С.О. Колінько1 , Т.І. Бутенко1
Приналежність

1 Черкаський державний технологічний університет, бул. Шевченка, 460, 18030 Черкаси, Україна

2 Національний технічний університет України «КПІ ім. Ігоря Сікорського», просп. Перемоги, 37, 03056 Київ, Україна

3 Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України, проспект Науки, 41, 02000 Київ, Україна

Е-mail
Випуск Том 15, Рік 2023, Номер 5
Дати Одержано 25 липня 2023; у відредагованій формі 18 жовтня 2023; опубліковано online 30 жовтня 2023
Посилання І.В. Яценко, В.С. Антонюк та ін., Ж. нано- електрон. фіз. 15 №5, 05030 (2023)
DOI https://doi.org/10.21272/jnep.15(5).05030
PACS Number(s) 42.79. Bh
Ключові слова Оптико-електронне приладобудування (3) , Елементи з оптичного скла та кераміки, Електронно-променева технологія, Гранично допустимі термопружні напруження у оптичних елементах.
Анотація

Широке використання електронно-променевої технології у оптико-електронному приладобудуванні стримується обмеженістю  даних про критичні значення параметрів електронного променю (густини теплового впливу променю, часу цього впливу та ін.) на оптичні елементи приладів різної геометричної форми (плоскі, прямокутні та криволінійні елементи та ін.), перевищення яких призводить до руйнування їх поверхневих шарів (поява тріщин, відколів, западин, порушення площинності поверхні та ін.). На даний час визначено діапазони зміни вказаних параметрів для плоских пластин, прямокутних брусків, циліндричних та сферичних елементів.Однак вказані дослідження відсутні для оптичних елементів у вигляді пластин двоякої кривизни, широко використовуваних у інтегральній та волоконній оптиці, мікрооптиці та інших направленнях оптико-електронного приладобудування. Робота присвячена розробленню математичних моделей теплового впливу електронного променю на оптичні елементи у вигляді пластин двоякої кривизни, що дозволяють з відносною похибкою 5…7 % визначати критичні діапазони зміни його параметрів (густини теплового впливу, часу його дії), перевищення яких призводить до погіршення фізико-механічних властивостей поверхневих шарів елементів аж до їх руйнування. Це дозволяє на стадії виготовлення приладів з використанням електронно-променевої технології попереджати можливі погіршення їх техніко-експлуатаційних характеристик.

Перелік посилань