Автори | С.О. Рудченко , А.Т. Пугачов , В.Є. Пуха , В.В. Старіков |
Афіліація | Національний технічний університет «ХПІ», вул. Фрунзе 21, 61002 Харків, Україна |
Е-mail | sveta_rud87@mail.ru |
Випуск | Том 5, Рік 2013, Номер 4 |
Дати | Одержано 19.06.2013, опубліковано online - 31.01.2014 |
Цитування | С.О. Рудченко, А.Т. Пугачов, В.Є. Пуха, В.В. Старіков, Ж. Нано- електрон. фіз. 5 № 4, 04073 (2013) |
DOI | |
PACS Number(s) | 61.48. – c, 62.20. – x |
Ключові слова | Фуллерен (2) , Фуллерит, Мікродифракція (2) , Нанотвердість (4) , Модуль пружності (12) . |
Анотація | Конденсацією молекул С60 на підкладках KCl, LiF та Si були отримані плівки фуллериту з текстурою (110). Методом наноіндентування при безперервному скануванні по глибині визначені модуль пружності (Е 14,1 ГПа) і твердість(Н = 0,42 ГПа) плівки фуллериту. Проведено порівняння отриманих результатів з теоретичними оцінками пружних модулів та даними попередніх робіт з вимірювань пружних характеристик та твердості кристалічногоC60. |
Перелік посилань |