Нова структура для покращеного виявлення наночастинок у скануючій електронній мікроскопії з використанням синтетичних даних

Автори G. Kumar1, S. Kumar2 , A. Sharma3, A. Raturi4 , A. Shrivastava5, A.L.N. Rao6, A.K. Khan7
Афіліація

Chitkara Centre for Research and Development, Chitkara University, Himachal Pradesh,174103, India

Centre of Research Impact and Outcome, Chitkara University, Rajpura-140401, Punjab, India

Department of Mechanical Engineering, GLA University, Mathura- 281406, Uttar Pradesh, India

Department of Mechanical Engineering, Graphic Era Deemed to be University, Dehradun, India

Saveetha School of Engineering, Saveetha Institute of Medical and Technical Sciences, Chennai, TN, India

Lloyd Institute of Engineering & Technology, Greater Noida, India

Lloyd Law College, Greater Noida, India

Е-mail gauravcivilengg714@gmail.com
Випуск Том 16, Рік 2024, Номер 6
Дати Одержано 27 серпня 2024; у відредагованій формі 20 грудня 2024; опубліковано online 23 грудня 2024
Цитування G. Kumar, S. Kumar, A. Sharma, та ін., Ж. нано- електрон. фіз. 16 № 6, 06008 (2024)
DOI https://doi.org/10.21272/jnep.16(6).06008
PACS Number(s) 61.46.Df, 68.37.Hk
Ключові слова Наночастинки (77) , Скануюча електронна мікроскопія (SEM) (2) , Синтетичні дані, Мультиконцентрована спектральна глибока згорнута нейронна мережа (MS-DCNN).
Анотація

Виявлення наночастинок у скануючій електронній мікроскопії (SEM) має вирішальне значення для різних застосувань. Існуючі методи виявлення наночастинок на SEM-зображеннях потребують допомоги для обробки диспергованих частинок і потребують більшої точності. Це дослідження використовує стратегію глибокого навчання для підвищення ефективності та точності розпізнавання. Щоб подолати труднощі, ми розробили надійну модель детектування наночастинок на базі Multi fused Spectral Deep Convolute Neural Net (MS-DCNN), використовуючи генерацію синтетичних даних для полегшення практичного навчання нейронної мережі та збору набору даних зображень SEM для виявлення наночастинок. Створено алгоритм для генерації синтетичних даних, поєднуючи випадкові розподіли частинок для моделювання SEM-мікрофотографій і дозволяючи розробляти анотовані набори даних, необхідні для навчання нейронної мережі. Порівняно з існуючими підходами; результатом є зменшення пікселів (0,62), помилок деформації (0,0008), зменшення часу обчислення (398 с) і більша точність (92,5%). Запропонована структура MS-DCNN є практичною та кращою, ніж звичайні методи, демонструючи підвищену точність ідентифікації диспергованих наночастинок. Генерація синтетичних даних допомагає в розробці навченої моделі, яка матиме справу з різними розподілами частинок. Модель тренується з використанням синтетичних даних, що демонструє потенціал техніки для покращення аналізу наночастинок у SEM-зображенні, який отримав перевірений результат порівняно з існуючим методом.

Перелік цитувань