Моделювання процесу утворення твердих розчинiв у системi In2O3-HfO2 при нагрiвi у середовищi повiтря
| Автори | О.О. Соловйова |
| Приналежність | Сумський державний університет, вул. Римського - Корсакова, 2, 40007, Суми, Україна |
| Е-mail | |
| Випуск | Том 3, Рік 2011, Номер 4 |
| Дати | Одержано 07.12.2010, у відредагованій формі – 11.12.2011, опубліковано online - 30.12.2011 |
| Посилання | О.О. Соловйова, Ж. нано- електрон. фіз. 3 №4, 114 (2011) |
| DOI | |
| PACS Number(s) | 64.75. Nx |
| Ключові слова | Оксид iндiю (2) , Диоксид цирконiю, Тип твердого розчину, Фазові перетворення (3) . |
| Анотація |
Запропоновані математичні моделі, утворення твердих розчинів у системі In2O3-ZrО2 дозволили розрахувати іонні радіуси катіонів: індію, цирконію, аніона і аніонної вакансії. Тверді розчини в даній системі утворюються на основі невпорядкованою фази типу С1 оксиду індію. Виявлено, що в інтервалі температур 1450, 1600 °С в середовищі повітря в даній системі утворюються обмежені тверді розчини типу: вирахування - заміщення, вирахування - заміщення - впровадження. Розмір катіонів індію, цирконію, кількість дефектів визначають тип твердого розчину в системі In2O3-ZrО2. Розраховані енергії: утворення твердих розчинів, електропровідності в цій системі. За даними електропровідності зразків виявлено, що провідність струму, концентрація і рухливість носіїв заряду залежить від типу твердого розчину, а не від валентності катіонів цирконію. |
|
Перелік посилань English version of article |
Інші статті цього номера
1) Static and Vibrational Properties of Lithium Alloys [005-012]2) Structural and Optical Properties of Electro Sprayed Tin Oxide Thin Films [013-019]
3) Generalized Hurst Exponent of The Carbon Thin Film Surface [020-026]
4) Modeling of Threshold Voltage and Drain Current of Uniaxial Strained p-MOSFETs [027-031]
5) Ellipsometric Studies on Silver Telluride Thin Films [032-042]
6) Magnetic and Low Temperature Conductivity Studies in Oxidized Nano Ni Films [043-054]
7) Усунення агрегування феромагнітних частинок при електронно-мікроскопічних дослідженнях [055-059]
8) Робастність методів правдоподібності для обчислення координат сцинтиляцій [060-065]
9) Дифракція хвиль на дофрактальній системі щілин в плоскому екрані [066-072]
10) Комплекс дистанційного пошуку, локалізації і ідентифікації джерел гамма випромінювання [073-080]
11) Модель утворення нанорозмірного віскера з каналу потрійного стику меж зерен полікристала [081-087]
12) Kінетика утворення згустків Ag на мікрокристалах AgBr при нормальному лазерному ефекті Гершеля [088-096]
13) Структура і фізико-механічні властивості нк-TiN покриттів отриманих вакуумно-дуговим осадженням та осадження з ВЧ розрядом [097-105]
14) Магніторезистивні властивості спін-вентильних структур на основі Сo та Сu або Аu [106-113]
15) Особливості станів фторида кобальта [125-130]
16) Ефект Холла в мультишарах на основі Pd i Fe [131-137]
17) Управління параметрами GaAs:Si-p-n-структур при гіратронному опромінюванні [138-149]
