Детектування іонізуючого випромінювання за допомогою польового транзистора на основі відновленого оксиду графену

Автори І.Б. Оленич1, Ю.Ю. Горбенко2 , Л.С. Монастирський1, О.І. Аксіментьєва2, О.С. Дзендзелюк1
Приналежність

1Факультет електроніки та комп’ютерних технологій, Львівський національний університет імені Івана Франка, 79005 Львів, Україна

2Хімічний факультет, Львівський національний університет імені Івана Франка, 79005 Львів, Україна

Е-mail igor.olenych@lnu.edu.ua
Випуск Том 16, Рік 2024, Номер 2
Дати Одержано 05 січня 2024; у відредагованій формі 19 квітня 2024; опубліковано online 29 квітня 2024
Посилання І.Б. Оленич, Ю.Ю. Горбенко, Л.С. Монастирський, та ін., Ж. нано- електрон. фіз. 16 № 2, 02019 (2024)
DOI https://doi.org/10.21272/jnep.16(2).02019
PACS Number(s) 73.63. – b, 78.70. – g
Ключові слова Відновлений оксид графену (2) , Польовий транзистор (15) , Точка Дірака, Іонізуюче випромінювання, Сенсор випромінювання.
Анотація

У роботі створено графеновий польовий транзистор шляхом нанесення плівкоутворювальної суспензії відновленого оксиду графену (RGO) на кремнієву підкладку з шаром SiO2 і подальшого висушування на повітрі за кімнатної температури. Досліджено можливість використання отриманого польового транзистора для детектування іонізуючого випромінювання. Вивчено електричні характеристики сенсора радіації на основі плівки RGO у режимах постійного та змінного струму. Проаналізовано залежності струму стоку та опору плівки RGO від напруги на затворі отриманого польового транзистора. На залежності струму стоку від напруги на затворі виявлено лінійні ділянки, положення яких визначаються знаком напруги зміщення. Встановлено зменшення провідності польового транзистора на основі RGO поблизу точки нейтральності заряду внаслідок опромінення ізотопом 226Ra. Зареєстровано збільшення опору та зменшення ємності досліджуваного польового транзистора у частотному діапазоні 25 Гц – 1 МГц, зумовлене спільною дією альфа- та бета-частинок і гамма-квантів. Виявлено лінійну залежність електричних характеристик запропонованого сенсора від поглинутої дози, яка визначається тривалістю опромінення. Розглянуто можливі механізми впливу іонізуючого випромінювання на провідність отриманої структури на основі плівки РГО. Генерація електронно-діркових пар у кремнієвій підкладці та утворення радіаційних дефектів в ізоляційному шарі SiO2 є, ймовірно, основними факторами, що впливають на електричні характеристики польового транзистора на основі плівки RGO під дією іонізуючого випромінювання. Отримані результати розширюють перспективи використання графенових польових транзисторів для створення нового типу детекторів радіації та дозиметричних пристроїв.

Перелік посилань