Визначення рефрактивних параметрів в кристалі Tl3TaS4

Автори О.В. Бокотей, О.О. Бокотей, В.О. Сливка, О.Г. Сливка
Приналежність

Ужгородський національний університет, пл. Народна, 3, 88000 Ужгород, Україна

Е-mail bokotey_ov@ukr.net
Випуск Том 12, Рік 2020, Номер 6
Дати Одержано 06 квітня 2020; у відредагованій формі 15 грудня 2020; опубліковано online 25 грудня 2020
Посилання О.В. Бокотей, О.О. Бокотей, В.О. Сливка, О.Г. Сливка, Ж. нано- електрон. фіз. 12 № 6, 06022 (2020)
DOI https://doi.org/10.21272/jnep.12(6).06022
PACS Number(s) 31.10. + z, 42.25.Ja, 42.65.An
Ключові слова Сульфід танталату талію, Нанофізика (8) , Показник заломлення (11) , Дисперсія (9) , Поляризація (27) .
Анотація

Проведено теоретичні розрахунки показника заломлення, оптичної діелектричної проникності та коефіцієнта відбивання для кристала Tl3TaS4 в рамках моделі зв'язуючих орбіталей Харрісона. Для глибшого розуміння цього дослідження представлено детальний аналіз наших розрахунків. Розрахунки проводились для спектральної області, далекої від краю поглинання, де дисперсія показника заломлення відсутня. Показник заломлення визначений в рамках узагальненої одноелектронної моделі. Цей підхід дозволяє визначати енергії заповнених електронних станів за допомогою значень термів Хартрі-Фока для валентних рівнів в твердих тілах. Ми використали спрощення, включивши лише найближчі зв'язки (кластери) та використовуючи універсальні параметри, що дозволяє безпосередньо прогнозувати фізичні властивості кристалів. Це кластерне наближення, яке базується на спеціальній точці, використовується для розрахунків поляризованості зв'язку. Дійсну частину діелектричної функції визначено з уявної частини співвідношенням Крамерса-Кроніга. З рештою, ми використали моделі Мосса, Равіндри, Ерва та Вендама для порівняння із значенням показника заломлення, розрахованого в рамках моделі Харрісона. Отримано задовільне узгодження наших теоретичних розрахунків. Показано, що модель Харрісона дозволяє аналізувати оптичні параметри сполук типу Tl3XY4. Оцінка показника заломлення має важливе значення для застосування в інтегрованих оптичних пристроях, де показник заломлення матеріалів є ключовим параметром для проектування пристроїв. Теоретична методика, розроблена в цій статті, може бути використана для дослідження оптичних властивостей матеріалів. Слід зазначити, що досліджуваний кристал, як очікується, сприятиме розвитку нанофізики та персоналізованої медицини для моніторингу та профілактики здоров'я.

Перелік посилань