Results (30):

Назва Effects of Interfacial Charges on Doped and Undoped HfOx Stack Layer with Tin Metal Gate Electrode for Nano-Scaled CMOS Generation
Автори S. Chatterjee, Y. Kuo
Випуск Том 3, Рік 2011, Номер 1, Part 1
Сторінки 0162 - 0169
Назва Effect of Grain Size on the Threshold Voltage for Double-Gate Polycrystaline Silicon MOSFET
Автори Mahesh Chandra, Alka Panwar, B.P. Tyag
Випуск Том 3, Рік 2011, Номер 1, Part 3
Сторінки 0474 - 0478
Назва Two Dimensional Analytical Modeling for SOI and SON MOSFET and Their Performance Comparison
Автори Saptarsi Ghosh, Khomdram Jolson Singh, Sanjay Deb, Subir Kumar Sarkar
Випуск Том 3, Рік 2011, Номер 1, Part 3
Сторінки 0569 - 0575
Назва Two-Dimensional Analytical Modeling of Threshold Voltage of Doped Short-Channel Triple-Material Double-Gate (Tm-Dg) MOSFET's
Автори Sarvesh Dubey, Dheeraj Gupta, Pramod Kumar Tiwari, S. Jit
Випуск Том 3, Рік 2011, Номер 1, Part 3
Сторінки 0576 - 0583
Назва Strategic Review of Arsenide, Phosphide and Nitride MOSFETs
Автори Gourab Dutta, Palash Das, Partha Mukherjee, Dhrubes Biswas
Випуск Том 3, Рік 2011, Номер 1, Part 4
Сторінки 0728 - 0740
Назва Electrostatics of Silicon Nano Transistor
Автори Lalit Singh, B.P. Tyag
Випуск Том 3, Рік 2011, Номер 1, Part 4
Сторінки 0808 - 0813
Назва A 2-D Analytical Threshold Voltage Model for Symmetric Double Gate MOSFET's Using Green’s Function
Автори Anoop Garg, S.N. Sinha, R.P. Agarwal
Випуск Том 3, Рік 2011, Номер 1, Part 5
Сторінки 0894 - 0902
Назва Role of Interface Charges on High-k Based Poly-Si and Metal Gate Nano-Scale MOSFETs
Автори N. Shashank, Vikram Singh, W.R. Taube, R.K. Nahar
Випуск Том 3, Рік 2011, Номер 1, Part 5
Сторінки 0937 - 0941
Назва A Doping Dependent Threshold Voltage Model of Uniformly Doped Short-Channel Symmetric Double-Gate (DG) MOSFET’s
Автори P.K. Tiwari, S. Dubey, S. Jit
Випуск Том 3, Рік 2011, Номер 1, Part 5
Сторінки 0963 - 0971
Назва Effect of Drift Region Doping and Coulmn Thickness Variations in a Super Junction Power MOSFET: a 2-D Simulation Study
Автори Deepti Sharma, Rakesh Vaid
Випуск Том 3, Рік 2011, Номер 1, Part 5
Сторінки 1112 - 1119
Назва Ефект впливу довжини каналу на порогові характеристики безперехіднихциліндричних польових транзисторів із затвором з діелектриків з високою проникністю
Автори Fairouz Lagraf, Djamil Rechem, Kamel Guergouri, Mourad Zaabat
Випуск Том 4, Рік 2012, Номер 1
Сторінки 02011-1 - 02011-5
Назва Performance of a Double Gate Nanoscale MOSFET (DG-MOSFET) Based on Novel Channel Materials
Автори Rakesh Prasher, Devi Dass, Rakesh Vaid
Випуск Том 5, Рік 2013, Номер 1
Сторінки 01017-1 - 01017-5
Назва Comparison of Atomic Level Simulation Studies of MOSFETs Containing Silica and Lantana Nanooxide Layers
Автори K. Bikshalu, M.V. Manasa, V.S.K. Reddy, P.C.S. Reddy, K. Venkateswara Rao
Випуск Том 5, Рік 2013, Номер 4
Сторінки 04058-1 - 04058-3
Назва Analysis of Voltage Transfer Characteristics of Nano-scale SOI CMOS Inverter with Variable Channel Length and Doping Concentration
Автори A. Daniyel Raj, C. Rajarajachozhan, Sanjoy Deb
Випуск Том 7, Рік 2015, Номер 1
Сторінки 01004-1 - 01004-4
Назва An Analytical Universal Model for Symmetric Double Gate Junctionless Transistors
Автори N. Bora, P. Das, R. Subadar
Випуск Том 8, Рік 2016, Номер 2
Сторінки 02003-1 - 02003-4
Назва Effects of High-k Dielectrics with Metal Gate for Electrical Characteristics of SOI TRI-GATE FinFET Transistor
Автори Fatima Zohra Rahou, A.Guen Bouazza, B. Bouazza
Випуск Том 8, Рік 2016, Номер 4
Сторінки 04037-1 - 04037-4
Назва Comparative Analysis of CNTFET and CMOS Logic based Arithmetic Logic Unit
Автори K. Nehru, T. Nagarjuna, , G. Vijay,
Випуск Том 9, Рік 2017, Номер 4
Сторінки 04018-1 - 04018-4
Назва Simulation and Performance Analysis of 32 nm FinFet based 4-Bit Carry Look Adder
Автори S. Rashid, S. Khan, A. Singh,
Випуск Том 9, Рік 2017, Номер 5
Сторінки 05003-1 - 05003-4
Назва Analytical Modeling & Simulation of OFF-State Leakage Current for Lightly Doped MOSFETs
Автори Nitin Sachdeva, Munish Vashishath, P.K. Bansal
Випуск Том 9, Рік 2017, Номер 6
Сторінки 06009-1 - 06009-4
Назва A Graphical Method to Study Electrostatic Potentials of 25 nm Channel Length DG SOI MOSFETs
Автори M. Djerioui, M. Hebali, D. Chalabi, A. Saidane
Випуск Том 10, Рік 2018, Номер 4
Сторінки 04027-1 - 04027-4
Назва An Analytical Modeling of Drain Current for Single Material Surrounded Gate Nanoscale SOI MOSFET
Автори Arjimand Ashraf, Prashant Mani
Випуск Том 10, Рік 2018, Номер 4
Сторінки 04012-1 - 04012-5
Назва A New Electro-Thermal Modeling of Low Voltage Power MOSFET with Junction Tempera-ture Dependent Foster (RC) Thermal Network
Автори Smail Toufik, Dibi Zohir
Випуск Том 10, Рік 2018, Номер 4
Сторінки 04017-1 - 04017-5
Назва Charge Based Quantization Model for Triple-Gate FINFETS
Автори P. Vimala
Випуск Том 10, Рік 2018, Номер 5
Сторінки 05015-1 - 05015-5
Назва PSpice Implementation and Simulation of a New Electro-Thermal Modeling for Estimating the Junction Temperature of Low Voltage Power MOSFET
Автори Toufik Smail, Zohir Dibi, Douadi Bendib
Випуск Том 10, Рік 2018, Номер 6
Сторінки 06004-1 - 06004-5
Назва Ефект впливу довжини каналу на порогові характеристики безперехідних циліндричних польових транзисторів із затвором з діелектриків з високою проникністю
Автори Fairouz Lagraf,, Djamil Rechem,, Kamel Guergouri,, Mourad Zaabat,
Випуск Том 11, Рік 2019, Номер 2
Сторінки 02011-1 - 02011-5
Назва Single Electron Transistor Based Current Mirror: Modelling and Performance Characterization
Автори Ashok.D. Vidhate, Shruti Suman
Випуск Том 13, Рік 2021, Номер 1
Сторінки 01017-1 - 01017-5
Назва Моделювання та імітація польового транзистора MOSFET (з high-k діелектриком) з використанням генетичних алгоритмів
Автори Abdelkrim Mostefai, Smail Berrah, Hamza Abid
Випуск Том 13, Рік 2021, Номер 6
Сторінки 06004-1 - 06004-5
Назва Аналіз продуктивності GAA MOSFET при кріогенній температурі для субнанометрового режиму
Автори M. Lakshmana Kumar, Biswajit Jena
Випуск Том 13, Рік 2021, Номер 6
Сторінки 06034-1 - 06034-4
Назва Вплив розмірів пристрою на електричні властивості DG-SOI-MOSFET за допомогою програмного забезпечення Octave
Автори M. Djerioui, M. Hebali, M. Abboun Abid
Випуск Том 14, Рік 2022, Номер 5
Сторінки 05025-1 - 05025-4
Назва Підвищення продуктивності ведичного множника за допомогою FinFET
Автори P. Vimala, Soumya G. Hosmani
Випуск Том 16, Рік 2024, Номер 2
Сторінки 02002-1 - 02002-5