| Назва |
Effect of Impurity Concentration on the Depth Profile of the Electric Field within Monolayer Thin Film |
| Автори |
N.F. Habubi, Kh.A. Mishjil, H.G. Rashid |
| Випуск |
Том 4, Рік 2012, Номер 2 |
| Сторінки |
02024-1 - 02024-4 |
| Назва |
Features of Electronic Emission from Surface of Dielectric Thin-film Materials with Ion-beam Etching |
| Автори |
A. Kurochka, A. Sergienko, S. Kurochka, V. Kolybelkin |
| Випуск |
Том 6, Рік 2014, Номер 3 |
| Сторінки |
03031-1 - 03031-3 |
| Назва |
Comparison of Three Dimensional Partially and Fully Depleted SOI MOSFET Characteristics Using Mathcad |
| Автори |
Neha Goel, Manoj Kumar Pandey |
| Випуск |
Том 8, Рік 2016, Номер 1 |
| Сторінки |
01041-1 - 01041-4 |
| Назва |
Thickness Calculation of Thin Transparent Conductive Membrane on the Border with a Magnetic Fluid |
| Автори |
V.V. Chekanov, N.V. Kandaurova, V.S. Chekanov |
| Випуск |
Том 8, Рік 2016, Номер 4 |
| Сторінки |
04045-1 - 04045-3 |
| Назва |
Two-Dimensional Graphene Superlattice:Energy Spectrum and Current-Voltage Characteristics |
| Автори |
S.V. Kryuchkov, C.A. Popov |
| Випуск |
Том 9, Рік 2017, Номер 2 |
| Сторінки |
02013-1 - 02013-4 |
