Results (2):

Назва Fabrication and Characterization of Al/p-CuInAlSe2 Thin Film Schottky Diodes
Автори Usha Parihar, N. Padha, C.J. Panchal
Випуск Том 5, Рік 2013, Номер 2
Сторінки 02015-1 - 02015-5
Назва Characterization of in-situ Doped Polycrystalline Silicon Using Schottky Diodes and Admittance Spectroscopy
Автори H. Ayed, L. Béchir, M. Benabdesslem, N. Benslim, L. Mahdjoubi, T. Mohammed-Brahim, A. Hafdallah, M.S. Aida
Випуск Том 8, Рік 2016, Номер 1
Сторінки 01038-1 - 01038-4