| Автори | Kunal Chakraborty1 , R. Narmadha2 , Islom Kadirov3 , DVSSSV Prasad4, Sireesha Koneru5, G. Deepika Reddy6 |
| Афіліація |
1Department of Electrical Engineering, IMPS College of Engineering and Technology, Malda, W.B, India 2Department of Mechatronics, Sathyabama Institute of Science and Technology, Chennai, T.N, India 3Department of Transport Systems, Urgench State University, Urgench, Uzbekistan 4Department of Mechanical Engineering, Aditya University, Surampalem, A.P, India 5Department of Mechanical Engineering, Koneru Lakshmaiah Education Foundation, Guntur, A.P, India 6Department of Mechanical Engineering, Govt. Polytechnic, Vaddepally, Telangana, India |
| Е-mail | kunal.eiilm.vu@gmail.com |
| Випуск | Том 18, Рік 2026, Номер 4 |
| Дати | Одержано 20 березня 2026; у відредагованій формі 15 серпня 2026; опубліковано online 21 серпня 2026 |
| Цитування | Kunal Chakraborty, R. Narmadha, Islom Kadirov, та ін., Ж. нано- електрон. фіз. 18 № 4, 04020 (2026) |
| DOI | https://doi.org/10.21272/jnep.18(4).04020 |
| PACS Number(s) | 88.40.jm, 88.40.H – |
| Ключові слова | Перовскіт (23) , ETL (4) , HTL (4) , PV (32) , Товщина (21) , PCE (10) . |
| Анотація |
У роботі показано аналіз продуктивності пристрою PSC на основі FTO/ETL/Cs2SnBr6/HTL/Au за допомогою симулятора SCAPS-1D. Для створення оптимізованого фотоелектричного пристрою в симуляторі було використано три матеріали ETL (CdS, SnO2 та ZnSe) та HTL-матеріали (CBTS, P3HT та CuO). ETL на основі CdS показав кращу продуктивність при товщині 80 нм, де PCE досяг 25,14 %, а HTL-матеріал CBTS зафіксував оптимальний PCE 29,04 % при товщині 60 нм серед усіх інших використаних ETL та HTL-матеріалів. При подальшому розгляді оптимізованих ETL та HTL, PSC на основі Cs2SnBr6 продемонстрував оптимальну фотоелектричну продуктивність при товщині 500 нм, де значення VOC, JSC, PCE та FF були зареєстровані як 1,19 В, 32,12 мА/см2, 27,66 % та 62,4 % відповідно. При товщині понад 500 нм PSC на основі Cs2SnBr6 фотоелектрична продуктивність пристрою залишалася майже постійною. З іншого боку, було помічено, що в діапазоні температур від 10 °C до 20 °C PCE пристрою значно збільшувався, а після температури 20 °C PCE пристрою не змінюється безперервно. Оптимізована температура пристрою становить 20 °C. Всі моделювальні дослідження проводилися за температури навколишнього середовища 27 °C, а всі інші параметри рекомбінації залишалися в ідеальних умовах. |
|
Перелік посилань |