Модифікований алгоритм обробки тінеграм, отриманих за допомогою кодованих апертур
| Автори | Д.В. Дранько, С.О. Щелканов |
| Афіліація | Науково-дослідний та проектно-конструкторський інститут «Іскра», вул. Звейнека, 145с, 91033 м. Луганськ, Україна |
| Е-mail | iskra_nipki@mail.ru |
| Випуск | Том 4, Рік 2012, Номер 4 |
| Дати | Одержано 18.10.2012; у відредагованій формі – 01.11.2012; опубліковано online 29.12.2012 |
| Цитування | Д.В. Дранько, С.А. Щелканов, Ж. Нано- Електрон. Фіз 4 №4, 04014 (2012) |
| DOI | |
| PACS Number(s) | 29.40.Mc |
| Ключові слова | Томографія (3) , Кодована апертура (2) , MURA, Алгоритм (15) , Пучок (24) , що слабо розходиться. |
| Анотація | У роботі описується новий алгоритм обробки тінеграм, отриманих за допомогою кодованих апертур на основі MURA в томографічних системах з використанням позиційно-чутливих детекторів в пучках гамма-квантів, які слабо розходяться. Показана принципова можливість домогтися кращого кутового дозволу у порівнянні з традиційним алгоритмом обробки при тих же параметрах томографічної системи. |
|
Перелік посилань English version of article |
Інші статті цього номера
1) Irradiation Effects on Microstructure and Dielectric Properties of Ba[(Mg0.32Co0.02)Nb0.66]O3 [BMCN] Thin Films [04001-1-04001-4]2) Preparation and Characterization of NiO Thin Films by DC Reactive Magnetron Sputtering [04002-1-04002-4]
3) Comparative Study of Semiconductors Bismuth Iodate, Bismuth Triiodide and Bismuth Trisulphide Crystals [04003-1-04003-6]
4) Nonlinear Optical Rectification of Confined Exciton in a ZnO/ZnMgO Strained Quantum Dot [04004-1-04004-5]
5) Preparation and Characterization of Thermally Evaporated Octa Substituted Zinc Phthalocyanine Thin Films [04005-1-04005-5]
6) Optical Properties of MEH-PPV and MEH-PPV/ [6,6]-Phenyl C61-butyric Acid 3-ethylthiophene Ester Thin Films [04006-1-04006-4]
7) Maximum and Minimum Transmittance of a Structure Containing N-Identical Pairs of Left- and Right-Handed Materials [04007-1-04007-5]
8) Study of Some Optical Properties of Mixed SnO2-CuO Thin Films [04008-1-04008-4]
9) Simulation Based Analysis of Temperature Effect on Breakdown Voltage of Ion Implanted Co/n-Si Schottky Diode [04009-1-04009-4]
10) Superconducting State Parameters of Bulk Amorphous Alloys [04010-1-04010-3]
11) Adiabatic, Non-Isothermal Plume Expansion into Vacuum in Terms of Knudsen Layer [04011-1-04011-3]
12) Two Dimensional Coulomb Potential of Confined Excitons in Quantum Well Structures [04012-1-04012-5]
13) Study of Growth, EDAX, Optical properties and Surface Morphology of Zinc Tartrate Crystals [04013-1-04013-4]
14) Особливості залежності коефіцієнта тензочутливості від деформації в металевих плівках [04014-1-04014-4]
15) Джерела кластерного пучка. Частина 2. Формування кластерних пучків у соплових джерелах [04015-1-04015-15]
16) Отримання і оптичні властивості плівок ZnSе [04016-1-04016-5]
17) Модифікація властивостей вуглецевих плівок для фотоелектричних перетворювачів [04018-1-04018-4]
18) Багатодзеркальний відкритий резонатор з ешелеттним дзеркалом [04019-1-04019-4]
19) Моделювання з перших принципів структури сполуки La0.5Li0.5TiO3 [04020-1-04020-4]
20) Роль ефекту самополяризації та електрон-фононної взаємодії у формуванні енергетичного спектру електрона в наноплівці PbI2, вміщеній у полімер E-MAA [04021-1-04021-6]
21) Процеси релаксації з високозбуджених станів в молекулярних системах на основі метиленового голубого [04022-1-04022-7]
22) Формування гранульованих сплавів (Cu, Co) із рівномірним розподілом магнітних гранул на основі масивів наночастинок Co [04023-1-04023-6]
23) Локалізовані стани поблизу нелінійного оптичного хвилеводу [04024-1-04024-4]
24) Визначення розподілу за розмірами металічних наночастинок золота в гідрозолях зі спектрів плазмонного поглинання [04025-1-04025-4]
25) Магніторезистивні властивості плівкових систем на основі Fe і Gd та Co і Gd [04026-1-04026-5]
26) Моделювання ферорідин в обмежених об’ємах [04027-1-04027-9]
27) Effect of Mg Doping on the Structural and Optical Properties of CdS Nanoparticles Synthesized by co-Precipitation Method [04028-1-04028-5]
